Final focusation of high power laser systems is usually utilized by an off-axis parabolic mirror. However, for various reasons it can be advantageous to use axial spherical mirror. Therefore, the beam needs to be extracted from the system for example by the central hole in the planar mirror. Submitted paper demonstrates especially power transmission aspects of such systems and also shows the influence of surface irregularities on the quality of beam focused through the mirror hole. The following study is conducted in Wyrowski VirtualLab Fusion. and Fokusace svazků vysokého výkonu se zpravidla provádí s využitím mimoosového (off-axis) parabolického zrcadla. Z různých důvodů může být cílem náhrada mimoosového parabolického zrcadla osovým sférickým zrcadlem. V takovém případě je nutné jiným způsobem vyvést laserový svazek ven z optického systému. Jedním z nich může být centrální díra v planárním zrcadle. Prezentovaný článek se zaměřuje zejména na přenos energie svazku v systému s centrální dírou a také na vliv povrchových nepravidelností zrcadel v systému na výslednou kvalitu fokusovaného svazku. Studie je provedena s využitím kombinace softwaru Wyrowski VirtualLab Fusion a Zemax OpticStudio.
Department of Technologies and Measurement deals with the design, simulation and measurement of planar strips, components and systems. The design of these planar strips and systems is very difficult especially for high frequency areas where the material parameters or geometric forms can influence on the resulting function of the electronic equipment. This article deals with analysis possibilities of these planar strips and systems in frequency domain. Finally the influence of substrate parameters on frequency characteristics of planar microstrip filters is presented. and Jedna z mnoha činností, kterou se zabývá oddělení technologie elektroniky na katedře technologií a měření, je návrh, simulace a měření parametrů planárních vedení, součástek a systémů. Návrh těchto planárních vedení a systémů je velice komplikovaný zejména v oblasti vysokých kmitočtů, kde výslednou funkci elektronického zařízení můžou ovlivnit parametry použitých materiálů nebo nevhodný návrh geometrického uspořádání. Tento článek se zabývá možnostmi analýzy těchto planárních systémů ve frekvenční oblasti včetně praktické ukázky vlivu parametrů substrátu na frekvenční charakteristiku planárního mikropáskového filtru.