Korekce Ti-safírového disku za použití metody MRF

Title:

Korekce Ti-safírového disku za použití metody MRF
Correction of Ti-sapphire disc using MRF method

Creator:

Michal, Stanislav and Provazníková, Pavlína

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:0bdbb33b-b844-41f8-8a0d-af17f3069234
uuid:0bdbb33b-b844-41f8-8a0d-af17f3069234

Subject:

Ti-sapphire, polishing, transmitted wawefront error, QED MRF, interferometer, surface shape, surface roughness, titan-safír, deformace prošlé vlnoplochy (transmitted wavefront error - TWE), interferometr, tvar povrchu, and drsnost povrchu

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

Titanium-doped sapphire is a widely used transition-metal-doped gain medium for tunable lasers and femtosecond solid-state lasers. It was introduced in 1986, and thereafter Ti:sapphire lasers quickly replaced most dye lasers, which had previously dominated the fields of ultrashort pulse generation and widely wavelength-tunable lasers. These crystals are commonly grown by Czochralski method. Of the essence of this method there is often present a center artifact. That means striae, which negatively influence transmitted wavefront error of an optical element. In our case this was a disc with diameter 50 mm. With the aim to maximize TWE the disc was plan-polished from both sides (input and output surface). After measuring of TWE the disc was corrected via MRF by polishing one surface using QED Q22-Y machine. This local correction method uses deliberately removing of material to decrease influence of inhomogenity inside of disc material. Effectiveness of this method was confirmed after few correction steps which improved TWE more than three times. and Titanem dopovaný safír je široce rozšířené aktivní médium pro přeladitelné a femtosekundové pevnolátkové lasery. Byl poprvé představen v roce 1986 a poté Ti-safírové lasery rychle nahradily většinu barvivových laserů. Ty do té doby dominovaly na poli laserů s ultrakrátkými pulzy a na poli laserů s přeladitelnou vlnovou délkou. Krystaly Ti-safíru jsou nejčastěji pěstovány metodou Czochralského. Z její podstaty je v materiálu velmi často přítomen středový artefakt - strie negativně ovlivňující deformaci průchozí vlnoplochy (TWE) optickým elementem. V našem případě se jednalo o disk průměru 50 mm. V úmyslu zlepšit TWE disku co nejvíce, byl disk rovinně leštěn z obou stran (vstupní a výstupní plocha). Po měření TWE byl disk korigován metodou MRF pomocí leštění jedné plochy za použití zařízení QED Q22y. Tato metoda spočívá v lokálním odstraňování materiálu, které vede k potlačení vlivu nehomogenity uvnitř materiálu. Efektivita této metody byla potvrzena několika korekčními kroky, jež zlepšily TWE disku více než trojnásobně.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

127-131

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2017 Volume:62 | Number:4

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false