Použití STM pro přímá pozorování atomárních procesů na systému Ag/Si(111)7×7

Title:

Použití STM pro přímá pozorování atomárních procesů na systému Ag/Si(111)7×7
Application of STM on direct observation of atomic processes on system Ag/Si(111)7×7

Creator:

Sobotík, Pavel, Kocán, Pavel, and Ošťádal, Ivan

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:31eb3fed-386f-45eb-8b2e-c5ebf9daf29b
uuid:31eb3fed-386f-45eb-8b2e-c5ebf9daf29b
issn:0009-0700

Subject:

elektronika, nanostruktury, skenovací elektronová mikroskopie, electronics, nanostructures, scanning electron microscopy, 6, and 53

Type:

model:article and TEXT

Format:

print, bez média, and svazek

Description:

Práce se zabývá přímým pozorováním atomárních procesů, které se uplatňují během růstu tenké vrstvy stříbra na zrekonstruovaném povrchu Si(111)7×7. Rastrovací tunelový mikroskop umožňuje atomární rozlišení v reálném prostoru. Snímáním série obrázků z jedné oblasti povrchu je navíc možné zachytit dynamiku procesů. Uveden je vliv rekonstrukce na povrchové procesy. Pozorovány byly základní procesy migrace atomu, vznik a rozpad zárodku, interakce s poruchami. Analýzou středních dob pobytu atomů v půlcelách povrchové rekonstrukce byly získány difuzní parametry. Uvádíme problémy vznikající při dynamických měřeních a jejich řešení., Pavel Sobotík, Pavel Kocán, Ivan Ošťádal., and Obsahuje seznam literatury

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

82-85

Source:

Československý časopis pro fyziku | 2003 Volume:53 | Number:2

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false