Determination of optical constants of thin films using the sum over trajectories

Title:

Determination of optical constants of thin films using the sum over trajectories
Určení optických konstant tenkých vrstev sumací přes trajektorie

Creator:

Malcher, Viliam and Greguš, Ján

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:871b4371-f8f6-4e76-94c4-96812deb8c05
uuid:871b4371-f8f6-4e76-94c4-96812deb8c05

Subject:

transmittance, Feynman sum over trajectories, thin films, optical constants, transmitance, Feynmanova sumace přes trajektorie, tenké vrstvy, and optické konstanty

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

A method to determine the optical parameters of thin films deposited on the thick transparent substrate is proposed. The method is based on the calculation of probability amplitude by the Feynman sum over trajectories. We can reproduce quickly known relation used in optics of thin films by this method and it could be generalized to other cases. We have discussed theoretically an accuracy of the method developed by Manifacier et al. [2]. and Je navržena metoda určení optických parametrů tenkých vrstev nanesených na tlustém transparentním substrátu. Metoda je založena na výpočtu amplitudy pravděpodobnosti pomocí Feynmanovy sumace přes trajektorie. Stručně reprodukujeme známé relace z optiky tenkých vrstev touto metodou, které lze zobecnit na jiné případy. Teoreticky diskutujeme o přesnosti metody navržené Manifacierem et al. [2].

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

262-264

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2015 Volume:60 | Number:9

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false