Využití elektronové mikroskopie v běžné strojírenské praxi

Title:

Využití elektronové mikroskopie v běžné strojírenské praxi
The usage of scanning electron microscopy in engineering practice

Creator:

Kolář, Jan and Švec, Martin

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:9840c3a6-1cb9-4b19-9bfd-09ec53fe6aed
uuid:9840c3a6-1cb9-4b19-9bfd-09ec53fe6aed

Subject:

scanning electron microscopy (SEM), secondary electrons (SE), backscattered electrons (BSE), electron backscatter diffraction (EBSD), energy-dispersive microanalysis (EDX), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), sekundární elektrony (SE), zpětně odražené elektrony (BSE), difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD), and energiově-disperzní mikroanalýza (EDX)

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

The scanning electron microscopy has become an integral part of manufacturing and controlling processes in recent years. Its function is to causes of defects detect, to check of the correctness of technological processes or to study of material’s phase transformations for correct setting of process parameters. Scanning electron microscopes are equipped with a range of detectors that provide information about the studied material. The usage of secondary electron detector (SE), backscattered electron detector (BSE and AsB), Electron backscatter diffraction detector (EBSD) and energy-dispersive X-ray detector (EDX) have been described in this paper. and Rastrovací elektronová mikroskopie se v posledních letech stává nedílnou součástí výrobních a kontrolních procesů. Její funkcí je především odhalování příčin vzniku vad, kontrola správnosti provedených technologických postupů či studium fázových přeměn materiálu sloužící pro správné nastavení konkrétních procesních parametrů. Elektronové mikroskopy jsou vybaveny škálou detektorů, které poskytují komplexní informaci o studovaném materiálu. V rámci tohoto článku bylo popsáno využití detektorů sekundárních elektronů (SE), zpětně odražených elektronů (BSE a AsB), detektoru difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) a detektoru pro energiově-disperzní mikroanalýzu (EDX) při řešení výrobní problematiky.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

126-128

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2018 Volume:63 | Number:4

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false