Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM

Title:

Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM
Simulation of surface image by means of contactless AFM method

Creator:

Kalousek, Radek, Škoda, David, Lopour, Filip, and Šikola, Tomáš

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:d7561926-978c-45f5-940e-6801a0cde160
uuid:d7561926-978c-45f5-940e-6801a0cde160
issn:0009-0700

Subject:

fyzika povrchů pevných látek, mikroskopie atomárních sil, křemík, surfaces (physics), atomic force microscopy, silicon, 6, and 53

Type:

model:article and TEXT

Format:

print, bez média, and svazek

Description:

Příspěvek se zabývá otázkou interakčních sil mezi hrotem sondy a studovaným povrchem při měření profilu povrchu pomocí bezkontaktní mikroskopie atomárních sil (AFM), které jsou zodpovědné za atomární rozlišení. Využitím kombinace dalekodosahových přitažlivých van der Waalsových sil a krátkodosahových odpudivých sil jsou prezentovány simulace zobrazovacích principů. Toto modelování umožňuje získat obrázky vybraných povrchů (např. Si) a diskutovat limity rozlišení metody., Radek Kalousek, David Škoda, Filip Lopour, Tomáš Šikola., and Obsahuje seznam literatury

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

89-92

Source:

Československý časopis pro fyziku | 2003 Volume:53 | Number:2

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false