1. Rentgenová metrologie mřížkových parametrů - Od M. Černohorského po dnešek
- Creator:
- Holý, Václav
- Format:
- print, bez média, and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- Černohorský, Martin, 1923-, 20. století, rentgenová difraktometrie, metrologie, monokrystaly, X-ray diffractometry, metrology, monocrystals, 6, and 53
- Language:
- Czech
- Description:
- Přesné stanovení mřížkových parametrů polykrystalických látek a monokrystalů je jednou ze základních úloh rtg. difrakce. Měření mřížkových parametrů polykrystalů je založeno na extrapolační metodě a na podílové metodě M. Černohorského, mřížkové parametry dokonalých monokrystalů lze měřit Bondovou metodou relativně k přepokládané vlnové délce rtg. záření, nebo kombinací rtg. a optické interferometrie. Článek shrnuje principy metod měření mřížkového parametru a zabývá se jejich aplikací pro přesné stanovení Avogadrovy konstanty., Václav Holý., and Obsahuje seznam literatury
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public