The work is focused on the testing of various commercially available polishing tools in terms of their impact on a surface structure specific area called MSF (mid spatial frequencies). For this purpose, a number of polishing experiments were carried out, the results of which were processed through the band pass filtering and PSD analysis and discussed from the perspective of the MSF behaviour in various steps of the polishing process and the ability to MSF suppress by given tools. and Práce je věnována testování různých komerčně dostupných lešticích nástrojů z hlediska jejich působení na specifickou oblast povrchových struktur označovanou jako střední prostorové frekvence (MSF). Za tímto účelem byla realizována řada lešticích experimentů, výsledky kterých byly zpracovány pomocí band pass filtrace a PSD analýzy, na jejichž základě je diskutováno chování MSF v různých krocích lešticího procesu a schopnost daných nástrojů MSF potlačovat.
This work is focused on a problem of an influence of tilt of a thin spherocylindrical spectacle lens on effective dioptric values and visual acuity obtained with such a lens. Moreover, it also discusses possibilities of compensation of this influence during the correction of refractive errors. and Článek pojednává o vlivu náklonu tenké sférocylindrické brýlové čočky podle horizontální a vertikální osy vůči oku na efektivní dioptrické hodnoty takovéto korekční čočky a zrakovou ostrost při korekci takovouto brýlovou čočkou. Dále se zabývá možnostmi kompenzace tohoto vlivu při korekci refrakčních vad oka.
The paper examines in detail the influence of measurement uncertainties of the construction parameters of cemented doublet to its paraxial imaging properties. The fundamental formulas for paraxial imaging of such an optical system are presented, i.e. the optical power of the cemented doublet, the working distances of subject and image focal point, the calculation of extension amount, and then the enumeration of the transverse, angular and longitudinal magnification. All these values are affected by the uncertainties of optical system’s parameters. Therefore, the analysis of such uncertainties is carried out and derived formulas are then applied to the real example of an achromatic doublet. and Práce se podrobně zabývá analýzou vlivu nejistot měření parametrů tmeleného dubletu na jeho paraxiální zobrazovací vlastnosti. Jsou představeny základní paraxiální zobrazovací vztahy této optické soustavy, a to výpočet lámavosti dubletu, vrcholových vzdáleností předmětového a obrazového ohniska, výpočet obrazových vzdáleností vztažených k ohniskům a následně příčného, úhlového a podélného zvětšení. Nejistota parametrů optické soustavy tmeleného dubletu má vliv na tyto veličiny, vztahy odvozené rozborem nejistot jsou pak aplikovány na příkladu achromatického dubletu.
V této práci je zhodnocen vliv změny teploty na parametry (zejména na absorpční koeficienty, intenzitu fluorescence a dobu života) aktivního prostředí pevnolátkových laserů. Ty se v některých případech při nízkých teplotách mění tak, že umožňují pozitivně ovlivňovat některé charakteristiky laseru (lepší odvod tepla, vyšší účinnost, vyšší výstupní výkon a nižší práh). V práci je uvedeno i experimentální srovnání spektrálních charakteristik aktivního prostředí Yb:YAG pro teploty od 80 K do 300 K a srovnání výstupních charakteristik laseru s aktivním prostředím Yb:YAG @ ~ 1030 nm pro teploty od 80 K do 300 K (při ochlazení vzorku na 80 K vzrostla účinnost laseru z 49 % na 59 %, maximální špičkový výkon vzrostl z 13 mW na 22 mW a práh laseru se snížil z 10,2 W na 0,1 W).
The paper addresses the issue of the influence of auxiliary optical system used in the measurement chain on the results of measuring the image quality of optical systems. It is shown that if the measurement should not be degraded by the auxiliary optical system (e.g. a microscope lens, collimator, etc.), the residual aberrations of the auxiliary optical system has to be much smaller than the aberrations of the measured optical system. This phenomenon is presented in several examples. and V práci je řešena problematika vlivu pomocné optické soustavy použité v měřicím řetězci na výsledky měření kvality zobrazení měřených optických soustav. Je ukázáno, že nemá-li dojít k degradaci měření vlivem pomocné optické soustavy (např. mikroskopového objektivu, kolimátoru apod.), musí být zbytkové aberace této pomocné optické soustavy mnohem menší, než jsou aberace měřené optické soustavy. Na několika příkladech je tento jev ukázán.
This paper presents the effect of various reflectance models of the thin-film structure system on determination of the thin-film thickness. A special program was created in software package Matlab, which is able to calculate theoretical spectral reflectance in selected wavelength interval for the certain thin-film thickness. Afterwards, this reflectance, which simulates experimental reflectance during the following study, is processed by other program in Matlab. In this way the simulated reflectance is fitted to theoretical one with thin-film thickness as fitted parameter. Different combinations of optical parameters - dispersive and non-dispersive - for the thin-film structure system can be used as the input for the program files in the fitted reflection spectrum. Finally, the effect of reflectance models on the value of the thin-film thickness is discussed. and Práce prezentuje vliv použití různých modelů odrazivosti systému tenká vrstva - podložka na vypočtení tloušťky tenké vrstvy. V prostředí Matlabu je vytvořen program, který pomocí obecného modelu vypočte teoretický průběh spektrální odrazivosti v závislosti na vlnové délce pro zvolenou tloušťku tenké vrstvy. Takto vypočtená odrazivost, která v další fázi studia simuluje naměřenou odrazivost, je zpracována dalším programem v Matlabu, který simulované (naměřené) reflexní spektrum fituje spektrem teoretickým, kde fitovaným parametrem je tloušťka vrstvy. Ve vstupních souborech fitovaného teoretického reflexního spektra jsou použity různé kombinace disperzních a nedisperzních optických parametrů systému tenká vrstva - podložka a je sledován jejich vliv na hodnotu vypočtené tloušťky tenké vrstvy.
Object identification in high temperature environment by means of RFID technology faces an obstacle in the form of protection of the transponder’s electronic circuits. Some transponder’s concepts protect the electronic circuits against temperature increase by application of a thermal insulating section. Another concept does not use this insulating section. The article describes the usage of a simulation tool of internal transponder temperature evaluation with the aim of internal temperature prediction. The successful solution would contribute to a reduction of production line downtime and to the maximalisation of production line capacity. and Problematika identifikace objektů v teplotně náročném prostředí prostřednictvím RFID technologie s sebou přináší úskalí v podobě ochrany elektronických obvodů transpondérů. Některé koncepty chrání obvody před nedovoleným zvýšením teplot aplikací teplotně izolačních vrstev, jiné tuto vrstvu neuplatňují. Článek popisuje využití simulačního nástroje pro ověření úrovně vnitřních teplot transpondérů s cílem predikce uvedených teplot. Úspěšné řešení problematiky by přispělo ke snížení prostojů a maximalizaci využití výrobních linek s pozitivním dopadem na úsporu nákladů.
The paper presents problem of deflection of a plan-hyperbolic lens of Fizeau interferometer caused by its own weight and its influence on wave aberration of such a lens. Manufacturing imperfections of this type of lenses are discussed and their influence on wave aberrations is breefly investigated. Differential equation describing deflection of a thin axisymmetric plate with variable thickness is proposed and one of the possible solving methods is discussed. Furthermore, the exact and approximate formulas for wave aberration of the plan-hyperbolic lens are presented. and V práci je řešen vliv průhybu plan-hyperboloidické čočky Fizeaueova interferometru vlastní tíhou a vliv nedokonalosti její výroby na vlnovou aberaci této čočky. Jsou uvedeny vztahy popisující průhyby osově souměrných tenkých kruhových desek proměnné tloušťky a je uvedena jedna z metod, kterou lze dané vztahy řešit. Dále jsou pak uvedeny přesné i přibližné vztahy pro výpočet vlnové aberace
plan-hyperboloidické čočky.
Predeposition requirements for the preparation of tool surfaces in PVD technology are more time-consuming in comparison with the PVD technology. An adhesive boundary is not created by coating diffusion into the substrate as it may happen in CVD case, but during a creation of physical coupling between surface and energetic particles deposited in the process of the particle impact and their condensation. Provided that deposited atoms join for instance the carbon or oxygen atoms, which alone have an absolutely insufficient adhesion to the tool surface, the total adhesion will be essentially defined just by adhesion impurity - surface.