Search

Start Over Format svazek Subject nanotechnologie

1. Analýza a modifikácia materiálov pomocou iónových zväzkov v Centre materiálového výskumu v Trnave

Creator:
Riedlmajer, Róbert
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
Slovenská technická univerzita (Bratislava, Slovensko)., Materiálovotechnologická fakulta, Centrum materiálového výskumu ATRI, nanotechnologie, iontové svazky, nanotechnology, ion beams, fyzikální inženýrství, materiálové inženýrství, physical engineering, materials engineering, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
Róbert Riedlmajer. and Obsahuje bibliografii
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

3. Bionika a nanotechnologie

Creator:
Kroisová, Dora and Kejzlar, Pavel
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
bionics, nanotechnology, scanning electron microscopy, bionika, nanotechnologie, and rastrovací elektronová mikroskopie
Language:
Czech
Description:
The study of natural materials, a creating of their similarities from the point of view of constructions, structures and materials is relatively new and a perspective field connecting results of scientific research of biologists, chemists, physicists, material engineers, constructors and designers. At present day a lot of these results were transferred into the industry application. How we can see natural materials could become a source of inspiration on a field of materials, technologies and constructions as well as on the field of nanotechnologies. and Studium přírodních materiálů, vytváření jejich analogií z hlediska konstrukcí, struktur i materiálů je relativně novým a neobyčejně perspektivním oborem, který dokáže spojovat výsledky bádání biologů, chemiků, fyziků, materiálových inženýrů, konstruktérů a designérů. V současné době řada výsledků těchto výzkumů dosáhla i svých průmyslových aplikací. Jak je postupně zjišťováno, přírodní materiály se nám mohou stát zdrojem inspirace v oblasti materiálů, technologií a konstrukcí stejně tak jako v oblasti nanotechnologií.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

4. Česká republika otevřela brány nanotechnologiím

Creator:
Cejnarová, Andrea
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
nanotechnologie, konference, nanotechnology, conferences, Česko, Czechia, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V letošním roce hostila Česká republika hned dvě významné akce zaměřené na výzkum a aplikaci v oblasti nanovědy a nanotechnologií. Ve dnech 2. až 5. června 2009 se v Kongresovém centru Praha konala v rámci českého předsednictví v Radě EU mezinárodní konference EuroNanoForum 2009 a mezinárodní fórum o nanotechnologiích. Možnost seznámit se s výsledky výzkumu a vývoje nanomateriálů v ČR a zahraničí i s konkrétními aplikacemi měli i účastníci I. ročníku konference NANOCON´09, pořádané v Rožnově pod Radhoštěm ve dnech 20.-22. 10. 2009., Andrea Cejnarová., and Článek zahrnuje informace ke dvěma konferencím: EuroNanoForum 2009 (v Praze) a Nanocon´09 (v Rožnově pod Radhoštěm)
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

6. Fyzikální elektronika a nanotechnologie: nový studijní obor na FEKT VUT v Brně

Creator:
Tománek, Pavel
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
physical electronics, nanotechnology, nanoscience, education, fyzikální elektronika, nanotechnologie, nanovědy, and vzdělávání
Language:
Czech
Description:
Due to the a development of nanotechnology in all areas of human activities, and the important role of South Moravia as industrial base with a growing importance of emerging technologies, it is necessary to educate young generation and prepare it to this novel trends and allow it a better flexible integration into the work market. Therefore, and as a base to the existing Ph.D. branch ''Physical electronics and Nanotechnology'', it is necessary to develop an interdisciplinary and multidisciplinary approach to this area at the lower levels, for Bachelor and Magister students in Electrical Engineering. The existing cours Nanometrology for Magister level is there shown as example of this tendency. and S nastupujícím rozmachem nanotechnologií ve všech oborech lidské činnosti a vzhledem k tomu, že Jihomoravský kraj je významnou průmyslovou základnou s rostoucím podílem inovačních postupů v oblasti nanotechnologií a informačních technologií, je nejen žádoucí, ale i nezbytné, připravovat mladé lidi na tyto nové trendy s cílem jejich snadnějšího, flexibilnějšího začlenění na trhu práce. Proto bude k akreditovanému doktorskému oboru ''Fyzikální elektronika a nanotechnologie'' na fakultě vybudována i základna pro studenty bakalářského a magisterského studia. Jako příklad jednoho již existujícího kursu pro magisterské studium je uveden výběrový kurs Nanotechnologie.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

8. Krása evanescentních vln

Creator:
Tománek, Pavel
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
optika, optická mikroskopie, nanotechnologie, optics, optical microscopy, nanotechnology, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
Rostoucí potřeba zvyšování přenosové kapacity optoelektronických systémů a zlepšení rozlišovací schopnosti zařízení navržených pro charakterizování optických součástek a přístrojů vyžaduje plně využít potenciál, který nabízejí evanescentní vlny. Hlubší porozumění fyzikální podstatě optických přístrojů a tím i jejich lepší využití však vyžaduje hlubokou analýzu blízkého pole., Pavel Tománek., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

9. Metody metrologické návaznosti v nanotechnologiích

Creator:
Klapetek, Petr
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
nanotechnologie, fyzika, nanotechnology, physics, 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
V článku jsou prezentovány základní přístupy při získávání metrologické návaznosti při měření rozměrů objektů v nano- a mikroměřítku. Klíčovou metodou je využití primárních etalonů délky, kterými jsou stabilizované lasery. Alternativou je využití dobře známých vlastností některých materiálů, jako je mřížková konstanta křemíku., This article presents the basic approaches for obtaining traceability of metrological measurements for objects at the nanoscale and microscale. This includes the use of primary length standards and the use of known material constants, such as the inter-atomic distance in silicon., Petr Klapetek., and Obsahuje bibliografické odkazy
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

10. Nanolitografie a kompenzace magnetického pole v prostředí s průmyslovým rušením

Creator:
Kolařík, Vladimír, Matějka, František, Horáček, Miroslav, Matějka, Milan, and Urbánek, Michal
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
E-beam writer with a shaped beam, magnetic field cancelling system, electron optics column, nanolithography, nanotechnology, elektronový litograf s tvarovaným svazkem, systém pro aktivní kompenzaci magnetického pole, elektronově-optická soustava, nanolitografie, and nanotechnologie
Language:
Czech
Description:
The paper describes the results achieved by electron beam lithography when using an electron beam writer BS 600. The impacts of interference that are common in industrial areas are discussed. Electromagnetic field in the critical place i.e. along an electron beam axis is considered to be the predominant source of disturbances. An installation of a magnetic field cancelling system is described. The best resolution achievable in both cases (the magnetic field cancelling system being on or off) are presented. It is supposed that the results and experience described herein would be helpful when new laboratories and operations for nanotechnologies will be designed and built. and Příspěvek se zabývá výsledky dosaženými při litografických operacích s využitím elektronového litografu BS 600. Článek diskutuje zejména vliv rušení v běžném průmyslovém prostředí na parametry dosažitelné při tomto způsobu litografie. Za převažující rušivý projev je považováno proměnlivé elektromagnetické pole v kritické oblasti, tedy podél osy elektronového svazku zapisovacího zařízení. Prezentovány jsou mezní parametry realizovaných struktur ve dvou případech, jednak při dosavadním běžném uspořádání a jednak při využití systému pro aktivní kompenzaci magnetického pole. Autoři se domnívají, že zkušenosti a výsledky popsané v tomto příspěvku mohou významným způsobem pomoci při budování vědeckých i průmyslových laboratoří či provozů se zaměřením na litografii, mikroskopii i technologie obecně, a to při práci s objekty o rozměrech pod 100 nanometrů.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public