(Statement of Responsibility) Fr. X. Prusík and Obsahuje přívazek: Urbáře statků Svobodnohamerského a Dřevíkovského / K.V.Adámek -- Urbář panství Rychmburského z roku 1731 / K.V. Adámek
The article deals with the problem of determination of basic parameters of unknown lenses, namely their radii of curvature, thicknesses and refractive indices of materials (e.g. optical glasses) from which these lenses are made. Four methods are proposed to obtain these parameters and mathematical relationships are derived that allow to determine the refractive index and Abbe number of lens material based on the measured radius values, the thickness and the position of the focal point or the focal length. and V článku je řešena problematika určení základních parametrů neznámých čoček, a to jejich poloměrů křivosti, tlouštěk a indexů lomu materiálů (např. optických skel), z kterých jsou tyto čočky zhotoveny. Jsou navrženy čtyři metody získání těchto parametrů a jsou odvozeny matematické vztahy, které umožňují určit index lomu a Abbeovo číslo materiálu čoček, a to na základě naměřených hodnot poloměrů křivosti, tloušťky a polohy obrazového ohniska nebo velikosti ohniskové vzdálenosti.
V práci je řešen jeden z možných způsobů určení materiálových konstant tenké desky, a to pro případ kruhové desky na okraji upnuté. Byly odvozeny vztahy, které umožňují bezdotykovým způsobem určit Poissonovo číslo a modul pružnosti v tahu materiálu desky. V případě, že je materiál desky průhledný (např. kapalinové čočky), jsou uvedeny vztahy pro výpočet indexu lomu a Abbeova čísla tohoto materiálu.
A detailed theoretical analysis of the diffraction theory of imaging of a point object by the optical system is performed. Explicit relationships are established to determine the position of the point micro-particle in the object space of the optical system. and V práci je podrobně teoreticky analyzována difrakční teorie zobrazení bodového předmětu optickou soustavou. Jsou odvozeny explicitní vztahy, které umožňují určit polohu bodové mikročástice v předmětovém prostoru optické soustavy.
This paper deals with an alternative method to determine the thickness of a thin film on a substrate. A linear relation between the thin-film thickness and the wavelength of the reflectance spectrum tangent to the envelope function for specific interference order is revealed in a wide wavelength range. This relation enables the calculation of the thickness provided that the wavelength-dependent optical parameters of the thin film and the substrate are known. The methods allow to calculate the thickness from the reflectance spectrum in a narrow range close to one extreme only as demonstrated both theoretically and experimentally for Sio2 thin-films on Si substrates. The results are discussed for two wavelength ranges and compared with those obtained by the algebraic fitting method. and Práce prezentuje metodu určení tloušťky tenké vrstvy z měření spektrální odrazivosti s využitím nové varianty obálkové metody. Byl nalezen lineární vztah mezi vlnovou délkou tečny spektrální odrazivosti k obálkové funkci a odpovídající tloušťkou tenké vrstvy pro daný interferenční řád v širokém spektrálním oboru. Tento lineární vztah umožňuje výpočet tloušťky vrstvy na základě známých spektrálních optických parametrů vrstvy a podložky. Metoda umožňuje výpočet tloušťky ze znalosti pouze malé části spektra v okolí jednoho extrému, jak je demonstrováno teoreticky a experimentálně na systému SiO2 - Si. Výsledky jsou porovnány s hodnotami, získanými algebraickou fitovací metodou.