This paper is dedicated to the interaction of light with metallic nanostructures. We give basic physical principles of light scattering on metallic particles; the technological steps when using electron lithography for fabrication of these nanostructures are shown; furthermore, methods how to measure the spectral response of samples with nanostructures are described. Advanced and sophisticated methods are generally required in nanotechnology. Therefore, we suggest applications of patterns consisting of metallic nanostructures exhibiting low level of falsification in the field of security-pattern industry. and Článek se zabývá měřeními interakce světla s kovovými nanostrukturami. Je stručně vysvětlen fyzikální princip, jakým se světlo na kovových částicích rozptyluje. Jsou naznačeny jednotlivé kroky při výrobě nanostruktur pomocí elektronové litografie a rovněž je popsáno, jak byly získány spektrální odezvy vzorků s nanostrukturami. Nanotechnologie obecně vyžadují používání pokročilých metod výroby a analýzy. Z toho důvodu navrhujeme aplikace vzorů vytvořených z kovových nanostruktur v oblasti výroby ochranných průmyslových prvků, neboť takové vzory se vyznačují nízkou úrovní padělatelnosti.
In this work, we summarize existing methods of sub-surface damage measurement, also a new method along with its initial results is presented. The method is based on the measurement of the scattered laser light intensity. For calibration purposes, an empiric relationship between the integral intensity of scattered light and sub-surface damage depth (determined from surface roughness) is established first. For a trial sample, sub-surface damage depth values determined either from surface micro-roughness or by our method are compared. and V této práci shrnujeme dostupné metody měření hloubky podpovrchového poškození a představujeme návrh nové metody společně s prvními výsledky. Metoda je založena na měření intenzity rozptýleného laserového záření. Pro kalibraci metody je nejprve určena empirická závislost mezi integrální intenzitou rozptýleného záření a hloubkou podpovrchového poškození stanovenou z mikrodrsnosti povrchu. Pro zkušební vzorek je pak porovnána hloubka podpovrchového poškození stanovená z mikrodrsnosti povrchu s naší metodou.