The surface topography persists for a long time in the forefront interest of many research and development organisations due to the perpetual quest for more precise and perfect measurement methods. So far used contact methods cannot be applied in many cases where their application can damage the measured surface and therefore waste the measured element, for instance lens surface or silicon plates etc. The great effort is therefore devoted to the development of contactless methods that employ various physical principles. In this article the brief description of light interference is presented including some algorithms for evaluation of the interference field and potentials of actual measuring instruments manufactured by prestigious producers and examples of model which are available at the today market. and Problematika topografie ploch je již dlouhou dobu v popředí zájmu řady výzkumných a vývojových pracovišť, neboť oblast vědy a techniky vyžaduje stale přesnější a dokonalejší metody měření. Dosud využívané kontaktní metody jsou v řadě případů zcela nepoužitelné vzhledem k tomu, že při jejich aplikaci dochází k poškození měřeného povrchu a tím ke znehodnocení měřeného prvku (např. plochy čočky, křemíkových desek apod.). Velké úsilí je proto věnováno právě vývoji bezkontaktních metod, pracujících na různých fyzikálních principech. V článku je stručně popsána interference světla a některé algoritmy pro vyhodnocování interferenčního pole se současným uvedením aktuálních možností měřicích přístrojů renomovaných světových výrobců a příklady modelů, které jsou v dnešní době na trhu k dispozici.