Number of results to display per page
Search Results
852. Analýza a vývoj difuzoru slunečního záření
- Creator:
- Pintr, Pavel, Rail, Zdeněk, and Macner, David
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- pyranometer, solar sensor, optical simulation, pyranometr, senzor osvitu, difuzor, and optická simulace
- Language:
- Czech
- Description:
- The theoretically attainable production of photovoltaic plants depends on the quality of solar sensors. We can determine an efficiency and reliability of photovoltaic plants with them. We have introduced an optical simulation of the original solution of solar sensor in the software Optic Studio 15.5 Zemax and proposed a new diffuser shape of solar sensor following our analysis. We describe a development of first prototypes and their testing in the real conditions. and Na kvalitě senzoru osvitu slunečního záření závisí měření účinnosti konverze sluneční energie na elektrickou, správnost odhadu množství vyrobené elektrické energie, a tedy i návratnosti finančních prostředků vložených do fotovoltaické elektrárny. V článku představujeme optickou simulaci původního řešení difuzoru senzoru osvitu zadanou zákazníkem. Na základě analýzy tohoto řešení jsme navrhli nový tvar difuzoru. Dále v článku popisujeme vývoj prvních prototypů a jejich testování v reálných podmínkách.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
853. Analýza deformácií metódou moirè
- Creator:
- Bartl, Ján
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- grating, moirè fringes, measuring system, mriežka, moirè prúžky, and merací systém
- Language:
- Czech
- Description:
- The moirè method is an optical technique suitable for measuring lengths, rotational angle and also the non-contact evaluation of shape deviations. This means that moirè method is non-destructive and can therefore be used to examine deviations of the human body shape and in the restoration of the sculptures and reliefs damages. and Moirè metóda je jednou z optických metód vhodných na meranie dĺžok, uhla natočenia a tiež aj na bezkontaktné hodnotenie odchýlok tvaru. To znamená, že moirè metóda je nedeštruktívna, a preto môže byť použitá pri vyšetrení deformácii tvaru ľudského tela a pri reštaurátorskom prieskume poškodenia sôch a reliéfov.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
854. Analýza elipsometrických dat získaných ze zakřiveného povrchu
- Creator:
- Křepelka, Jaromír
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- ellipsometry, curved surfaces, non-collimated beams, elipsometrie, zakřivený povrch, and nekolimované světelné svazky
- Language:
- Czech
- Description:
- This article deals with quantitative determination of the error following the ellipsometric data obtained from a curved surface including the influence of non-collimated beams. Numerical model, based on the combination of geometrical and wave optics, is restricted to the example of single dielectric layer deposited on the substrate with complex index of refraction. Three methods for averaging the possible measurable ellipsometric data are compared and analysed. and V článku je analyzován vliv zakřiveného povrchu na přesnost vyhodnocení elipsometrických parametrů získaných změřením odraženého sbíhavého (rozbíhavého nebo kolimovaného) svazku dopadajícího na sférický povrch. Numerický model je omezen na příklad jedné tenké dielektrické vrstvy nanesené na podložce s komplexním indexem lomu, fyzikálně vycházející z geometrického modelu šíření dílčích paprsků známé polarizace, zatímco pro šíření elektromagnetického pole v tenké vrstvě je využito metody vlnové optiky. Jsou uváženy tři způsoby průměrování lokálních veličin a porovnány odchylky od správných hodnot indexu lomu a tloušťky dielektrické vrstvy.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
855. Analýza hydrologických dat z Modravských povodí
- Creator:
- Pavlásek, Jirka, Máca, Petr, and Ředinová, Jana
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- rainfall-runoff process, experimental catchment, srážkoodtokový proces, and experimentální povodí
- Language:
- Slovak
- Description:
- After bark beetle calamity in National park Šumava were established three experimental catchments with different forest cover (dead forest, clearing and healthy forest). In these catchments were, in period without snow cover, measured components of rainfall-runoff events. The aim of the research was to estimate a correlation of chosen characteristics of rainfall-runoff events from catchments Modrava 1 (dead forest) and Modrava 2 (clearing). Comparing limit values of correlations, there were found no significant differences between observed catchments. and Po kůrovcové kalamitě v Národním parku Šumava vznikla na plochách s rozdílným pokryvem (stojící odumřelý smrkový les, paseka a zdravý les) tři experimentální povodí. Na těchto povodích byly v období bez sněhové pokrývky měřeny komponenty srážkoodtokového procesu. Předmětem výzkumu bylo stanovení vzájemných závislostí vybraných komponent srážkoodtokových událostí na povodích Modrava 1 (odumřelý les) a Modrava 2 (paseka). Při porovnání limitních hodnot vybraných závislostí nebyly patrné mezi zkoumanými experimentálními povodími výrazné rozdíly.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
856. Analýza multifyzikálního problému hořící svíčky
- Creator:
- Záhorová, Zuzana
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- fyzika, hořící svíčka, physics, and burning candle
- Language:
- Czech
- Description:
- Analýza multifyzikálního problému hořící svíčky byla vypracována firmou AltaSim Technologies s využitím simulačního nástroje COMSOL Multiphysics. Tato metodologie byla poté použita pro řadu aplikací k předpovězení teplotního rozdělení v jevech spojených s hořícím plamenem. and Autorka je zástupkyní obchodní společnosti Humusoft s.r.o.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
857. Analýza povrchového reliéfu solárních článků
- Creator:
- Sobola, Dinara, Sadovský, Petr, Škarvada, Pavel, and Tománek, Pavel
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- solar cell, topography, image processing, solární článek, topografie, and zpracování obrazu
- Language:
- Czech
- Description:
- In this study we have used scanning electron microscopy and atomic force microscopy (SEM and AFM) for evaluation and measurement of solar cell surfaces micro-geometry. SEM allowed to study large areas of the solar cells with considerable surface roughness (more than 10 μm) while AFM was carried out on relatively smooth areas, but it is truly 3D measurement. Currently, probe methods are more applicable for studying solid materials surfaces. AFM is a 3D surface morphology technique that provides quantitative information about surfaces, and characterizes roughness of the surface, and sizes of morphological features, such as grains. and Práce se zabývá měřením a vyhodnocením mikrogeometrického reliéfu povrchu monokrystalického a polykrystalického solárního článku. K měření povrchu byla využita skenovací elektronová mikroskopie SEM a mikroskopie atomárních sil AFM. Metoda SEM umožňuje snímat velké plochy solárních článků se značnou drsností povrchu a metoda AFM byla použita na poměrně hladké plochy, nicméně se jednalo o skutečné 3D měření. Metody využívající snímací sondy se používají pro studium povrchů pevných látek. AFM umožňuje 3D mapování povrchového reliéfu a poskytuje kvantitativní informace o povrchu, dokáže charakterizovat jeho drsnost a další morfologické charakteristiky, jako například zrnitost.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
858. Analýza povrchovej morfológie LED štruktúr na báze In(AlGa)P/InGaP/GaP pomocou metód AFM a NSOM
- Creator:
- Ďatko, Stanislav, Kováč, Jaroslav, Haško, Daniel, Šatka, Alexander, and Hasenöhrl, Stanislav
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Language:
- Czech
- Description:
- In this work there are examined the structural surface characteristics of the P/In0→0.76Ga1→0.24P/In0.76(AlGa)0.24P sample with an active LED area created by a P-N transition in quaternary material In(AlGa)P. A surface morphology was treated using AFM method in contact and semicontact regimes. The obtained results were compared with measured results of optical transmission using NSOM in shear force regime provided transmission measurements utilizing a tipped optical fibre. The aim of the work is to compare measured results of surface morphology of LED structures not matched in grid to the substrate obtained by various SPM methods. and V práci sú vyšetrované štrukturálne vlastnosti povrchu vzorky GaP/In0→0,76Ga1→0,24P/In0,76(AlGa)0,24P, v ktorej aktívnu oblasť LED štruktúry tvorí P-N priechod v kvaternárnom materiáli In(AlGa)P. Povrchová morfológia bola skúmaná pomocou metódy AFM v kontaktnom a semikontaktnom režime. Namerané výsledky boli porovnané s výsledkami merania optickej priepustnosti pomocou NSOM, ktorý pracoval v ''shear force'' režime a umožňoval meranie transmisie využitím zahroteného optického vlákna. Cieľom práce je porovnanie výsledkov meraní povrchovej morfológie LED štruktúr mriežkovo neprispôsobených k podložke, získané použitím rôznych metód SPM.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
859. Analýza povrchovej morfológie tenkých vrstiev ZnO pripravených RF naprašovaním pomocou atómovej silovej mikroskopie
- Creator:
- Haško, Daniel, Kováč, Jaroslav, Novotný, Ivan, and Jánoš, Ľubomír
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Language:
- Czech
- Description:
- This article deals with a morphology analysis of polycrystalline ZNO thin films deposited by radio-frequency diode sputtering in Ar+ and Ar’+N2 atmosphere on the SiO2/Si and glass substrates. The surface structure of polycrystalline ZnO sputtered films of about 500 nm thickness was revealed using an atom force microscopy method and then after their thermal annealing at temperature 500 °C - 600 °C in N2 and H2+N2 forming gas atmosphere. The surface roughness and granularity of tested samples were analysed. The obtained results confirmed that sputtering conditions together with annealing have an effect on polycrystalline ZnO film characteristics. and Príspevok sa zaoberá povrchovou analýzou tenkých vrstiev polykryštalického ZnO, ktoré boli pripravené rádio-frekvenčným diódovým naprašovaním v Ar+ a Ar++ N2 atmosfére na substrátoch SiO2/Si a skle. Metódou atómovej silovej mikroskopie bola zisťovaná povrchová štruktúra polykryštalického ZnO s hrúbkou naprášených vrstiev ~ 500 nm a po ich následnom zažíhaní metódou rýchleho tepelného žíhania pri teplotách 500 - 600 °C v atmosfére N2 a H2+N2 formovacom plyne. Na meraných vzorkách boli vyhodnotené parametre drsnosti a zrnitosti povrchu. Dosiahnuté výsledky potvrdili, že podmienky naprašovania a následné žíhanie vplýva na štrukturálne vlastnosti polykryštalických vrstiev ZnO.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public
860. Analýza referenčních povrchových vad optických ploch za použití konfokální mikroskopie, interferometrie v bílém světle a mikroskopie atomárních sil
- Creator:
- Špína, Michal, Procháska, František, Junek, Jiří, and Malá, Kristýna
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- surface imperfection, scratch and dig analysis, optical surface evaluation, MIL-O-13830, scratch and dig standard, confocal microscopy, scanning microscopy, scratch and dig calibration, povrchové vady, scratch and dig analýza, hodnocení optického povrchu, konfokální mikroskopie, skenovací mikroskopie, and scratch and dig kalibrace
- Language:
- Czech
- Description:
- Currently there exists a large number of different methods for surface characterization. Each method has its specific positives and negatives. This article offers a view at reference surface imperfections of optical surfaces using different observation techniques: scanning confocal microscopy, white light interferometry (WLI) and atomic force microscopy (AFM). Purpose of this is as complex as possible view to morphology and topography of defects in three-dimensional scale and comparison with their optical properties. and V současné době existuje velké množství různých metod pro charakterizaci povrchů. Každá metoda má své klady i zápory. Tento článek nabízí pohled na referenční povrchové vady optických ploch pomocí různých pozorovacích technik, a to skenovací konfokální mikroskopie, interferometrie v bílém světle a mikroskopie atomárních sil. Účelem je co nejkomplexnější pohled na morfologii defektů v trojrozměrném měřítku a porovnání s jejich optickými vlastnostmi.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public