Currently there exists a large number of different methods for surface characterization. Each method has its specific positives and negatives. This article offers a view at reference surface imperfections of optical surfaces using different observation techniques: scanning confocal microscopy, white light interferometry (WLI) and atomic force microscopy (AFM). Purpose of this is as complex as possible view to morphology and topography of defects in three-dimensional scale and comparison with their optical properties. and V současné době existuje velké množství různých metod pro charakterizaci povrchů. Každá metoda má své klady i zápory. Tento článek nabízí pohled na referenční povrchové vady optických ploch pomocí různých pozorovacích technik, a to skenovací konfokální mikroskopie, interferometrie v bílém světle a mikroskopie atomárních sil. Účelem je co nejkomplexnější pohled na morfologii defektů v trojrozměrném měřítku a porovnání s jejich optickými vlastnostmi.
The paper deals with the measurement of coherent light power below the noise level of one detector. The method uses the optical arrangement of the Mach-Zehnder interferometer and the modified detector in the quadrature. Using correlated detection of signals in two quadrant detector channels, the measured power was 23 times weaker than the noise-equivalent power. and Článek se zabývá měřením výkonu koherentního světla pod úrovní šumu jednoho detektoru. Měřicí metoda využívá optického uspořádání Machova-Zehnderova interferometru a upraveného detektoru v kvadratuře. Pomocí korelované detekce signálů ve dvou kanálech detektoru v kvadratuře se podařilo naměřit výkon 23krát slabší, než je ekvivalentní šumový výkon.
The article explains why it is necessary to deal with a mechanical stress in thin film coatings especially in multilayer systems. The published model’s properties are overviewed and a new alternative model of mechanical stress in multilayer is proposed. Both models are compared including the discussion of their advantages for utilization in different situations. and V článku jsou uvedeny důvody, proč je významné se zabývat mechanickým napětím tenkých vrstev, zejména systémem více vrstev. Shrnuje vlastnosti modelu uvedeného v literatuře a podává odvození alternativního popisu jednotlivých vrstev. Jsou porovnány oba přístupy a uvedeny výhody jejich použití v různých případech.
Using aluminum films combined with protective dielectric film is amethod of choice for many reflective applications in the visible (VIS) and the near infrared (NIR) range. An optical defect occurred during the introduction of the deposition aluminum (Al) films protected by a silicon dioxide (SiO2 ) protective film in our laboratory. Both films were deposited using an electron beam evaporator. S iO2 layers were deposited using the ion beam assisted deposition (IBAD). The results were not satisfactory. Produced films were matting and struggled with a significant reflectance decrease. The article presents an experimental approach which has been performed in order to eliminate the matting effect and the reflectance decrease. and Hliníková vrstva v kombinaci s ochrannou dielektrickou vrstvou je jedna z nejčastěji používaných možností pro výrobu reflexních prvků v oblasti viditelného a blízkého infračerveného světla. Při depozici těchto vrstev v naší laboratoři byl pozorován problém s degradací kvality ve formě viditelného zašednutí a výrazné ztráty reflektance. Hliníková i dielektrické vrstvy jsou nanášeny vakuovým odpařováním z elektronového děla. V případě dielektrické vrstvy je pak použita varianta zvaná IBAD (Ion Beam Assisted Deposition). Článek představuje výsledky experimentů, kterými byl nalezen optimální procesní postup eliminující degradaci optické kvality deponovaných vrstev.