This article deals with modification and renovation of the ellipsometer Gaertner L119 and its using for thin-film structures study. The measurement process is fully automatized. The device works at constant wavelength in PCSA null regime and the data are obtained for various angles of incidence. The system was tested on a set of SiO2 thin-films prepared on Si single crystal wafers by thermal oxidation at 1200°C. The thicknesses obtained from experiment were compared with the results obtained by using of Yamaguchi type spectral ellipsometric system as well as with the data determined from white-light interferometry and spectral reflectometry. and Předložená práce se zabývá popisem úprav a modernizace elipsometru Gaertner L119 a jeho využitím pro studium tenkých vrstev s automatizovaným režimem měřicího procesu. Zařízení se využívá jako nulovací elipsometr v konfiguraci PCSA pro měření na jedné vlnové délce při různých úhlech dopadu. K testování přístroje byla provedena měření tloušťky vrstev SiO2 připravených termickou oxidací na monokrystalických křemíkových deskách při teplotě 1200 °C. Naměřené tloušťky byly porovnány jednak s výsledky měření na spektrálním elipsometru systému Yamaguchi a také s interferometrickými a reflektometrickými měřeními v bílém světle.
This study deals with the changes in position of the office of moravian land captain during the reign of last members of house Luxemburg in Moravia, since the ascension of king Venceslaus IV. in the year 1411, over the reign of Sigismund of Hungary, to the granting of Moravian margravate to Albrecht V. of Habsburg in october 1423. The author corrects some deficiencies of existing literature and specifies the chronology of holders of this office. Based on the analysisi of sources are also reconstructed purviews and areas, in which the land captain could intervene and their changes in time of hussite wars and reign of different margraves. This work also captures the way of appointment and deposition of land captains by the ruler and different strategies and attempts to alternate arrangement of administration of Moravian margravate by Sigismund of Hungary, when he tried to sideline this office, which became more and more dependent on the forming high nobility estate.
During the medieval and early modern eras, most of the European urban authorities intended to rule their cities for the «common good», together with respecting the social hierarchy and privileged status. In the 18th century, however, many voices raised for improving the urban policing and reforming old regulations. Most of police officers claimed for equality of every inhabitant with regards to local police ordinances and petty police courts. But even if the urban rules agreed with their arguments for a more efficient policing, they could not prescribe an equality that would overthrow the Ancien Régime’s social order. Brussels in the 18th century is a good example of this contradiction. It was there impossible to reform the policing for the foreigners nor to create a professional night-watch, because of the strong reluctance of the city aldermen to abandon social privileges which were seen as fundamental freedoms of the country., Catherine Denys ; translated by Laura Bennett., and Obsahuje bibliografické odkazy
The article deals with the problem of determination of basic parameters of unknown lenses, namely their radii of curvature, thicknesses and refractive indices of materials (e.g. optical glasses) from which these lenses are made. Four methods are proposed to obtain these parameters and mathematical relationships are derived that allow to determine the refractive index and Abbe number of lens material based on the measured radius values, the thickness and the position of the focal point or the focal length. and V článku je řešena problematika určení základních parametrů neznámých čoček, a to jejich poloměrů křivosti, tlouštěk a indexů lomu materiálů (např. optických skel), z kterých jsou tyto čočky zhotoveny. Jsou navrženy čtyři metody získání těchto parametrů a jsou odvozeny matematické vztahy, které umožňují určit index lomu a Abbeovo číslo materiálu čoček, a to na základě naměřených hodnot poloměrů křivosti, tloušťky a polohy obrazového ohniska nebo velikosti ohniskové vzdálenosti.
V práci je řešen jeden z možných způsobů určení materiálových konstant tenké desky, a to pro případ kruhové desky na okraji upnuté. Byly odvozeny vztahy, které umožňují bezdotykovým způsobem určit Poissonovo číslo a modul pružnosti v tahu materiálu desky. V případě, že je materiál desky průhledný (např. kapalinové čočky), jsou uvedeny vztahy pro výpočet indexu lomu a Abbeova čísla tohoto materiálu.
A detailed theoretical analysis of the diffraction theory of imaging of a point object by the optical system is performed. Explicit relationships are established to determine the position of the point micro-particle in the object space of the optical system. and V práci je podrobně teoreticky analyzována difrakční teorie zobrazení bodového předmětu optickou soustavou. Jsou odvozeny explicitní vztahy, které umožňují určit polohu bodové mikročástice v předmětovém prostoru optické soustavy.
This paper deals with an alternative method to determine the thickness of a thin film on a substrate. A linear relation between the thin-film thickness and the wavelength of the reflectance spectrum tangent to the envelope function for specific interference order is revealed in a wide wavelength range. This relation enables the calculation of the thickness provided that the wavelength-dependent optical parameters of the thin film and the substrate are known. The methods allow to calculate the thickness from the reflectance spectrum in a narrow range close to one extreme only as demonstrated both theoretically and experimentally for Sio2 thin-films on Si substrates. The results are discussed for two wavelength ranges and compared with those obtained by the algebraic fitting method. and Práce prezentuje metodu určení tloušťky tenké vrstvy z měření spektrální odrazivosti s využitím nové varianty obálkové metody. Byl nalezen lineární vztah mezi vlnovou délkou tečny spektrální odrazivosti k obálkové funkci a odpovídající tloušťkou tenké vrstvy pro daný interferenční řád v širokém spektrálním oboru. Tento lineární vztah umožňuje výpočet tloušťky vrstvy na základě známých spektrálních optických parametrů vrstvy a podložky. Metoda umožňuje výpočet tloušťky ze znalosti pouze malé části spektra v okolí jednoho extrému, jak je demonstrováno teoreticky a experimentálně na systému SiO2 - Si. Výsledky jsou porovnány s hodnotami, získanými algebraickou fitovací metodou.
The paper reviews recent climate change impact studies for the Slovak National Climate Program (SNKP). Basic adaptation strategies are also discussed. Priorities for future research within the SNKP are suggested. and Článok prináša prehľad o metodických postupoch, používaných v súčasnosti na určovanie možného vplyvu zmeny klímy na odtokové procesy. Nadväzuje pritom na prehľad uvedený v prácach S z o l g a y, et al. (1997), S z o l g a y a H l a v č o v á (2000), H l a v č o v á, et al. (2000) a sústreďuje sa najmä na pokrok v uvedenej problematike za posledné 4 roky, dokumentovaný na základe publikácií v niektorých vedúcich karentovaných časopisoch a výsledkov správy IPCC. Identifikuje smery výskumu v oblasti analýzy časových radov pre posudzovanie možnej zmeny podmienok tvorby odtoku, ako aj v oblasti využívania závislostí medzi odtokom a jeho podmieňujúcimi činiteľmi na určovanie možnej zmeny odtoku v dôsledku klimatickej zmeny.