In the contribution the results on the combination of ion sputtering and scattering processes for achieving enhanced complementary information on the analyzed multilayer are reported. Physical background of ion-solid interactions is discussed. Specifically, the combination of SIMS and TOF-LEIS techniques will be introduced. and V tomto článku je diskutována problematika interakce iontů s pevnou látkou. Podrobněji je diskutována možnost využití mechanických vlastností iontů k analýze 2D nanostruktur (vrstev s tloušťkou v jednotkách nanometrů) pomocí metod SIMS a TOF-LEIS.
Příspěvek přináší aktuální informace o jedné z nejmladších žákovských přírodovědných soutěží - Fyzikálním DUETu. Tato soutěž dvojic je založena na experimentování jako prostředku k rozvíjení tvůrčích schopností ve fyzice. and Jitka Strouhalová [et al.].
A new physical laboratory for students of Physical engineering and nanotechnology study programme is based on experiments from the field of modern physics and on advanced imaging techniques with nanometre scale resolution. The experiments and their interpretation form base for study of the modern physics and nanotechnology. and Experimentální sestavy z oblasti moderní fyziky a zobrazovacích technik s nanometrovým rozlišením tvoří základ nové výukové laboratoře pro studenty oboru Fyzikálního inženýrství a nanotechnologie. Experimenty a jejich interpretace představují základní pilíře při studiu moderní fyziky a nanotechnologií.