V tomto příspěvku je popsáno využití mikroskopie založené na detekci atomárních sil (AFM) pro přípravu a pozorování nanostruktur vytvořených anodickou lokální oxidací na titanu. Je ukázáno, že v souladu s Cabrerovou-Mottovou teorií výška oxidových vrstev vytvořených pomocí AFM lineárně vzrůstá s napětím přiloženým mezi hrot a vzorek, zatímco rozměr pološířky tuto závislost nevykazuje. Dále je vynesena spojitost mezi výškou a pološířkou oxidových čar v závislosti na rychlosti pohybu hrotu po vzorku v průběhu oxidace. Rovněž je popsáno chování odporu tenkých vodivých kanálků vzhledem k jejich šířce., David Škoda, Filip Lopour, Radek Kalousek, David Burian, Jiří Spousta, Tomáš Šikola, František Matějka., and Obsahuje seznam literatury
Article deals with a sensitivity analysis of fitting procedure: theoretical model of reflectance is fitted to an ''ideal'' data by applying Levenberg - Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model at given set of starting parameters vector. and V článku je popsána základní myšlenka citlivostní analýzy fitovací procedury běžně používané při vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev. Hledání minimální hodnoty sumy čtverců odchylek teoretické závislosti a závislosti získané experimentálně je často negativně ovlivněno výběrem startovacího vektoru optických parametrů. Proto je v příspěvku zaveden a diskutován tzv. faktor spolehlivosti, který vypovídá o pravděpodobnosti nalezení věrohodného výsledku fitováním. Počáteční vektor startovacích parametrů je vybírán z určitého okolí ideálního (známého) řešení a sleduje se, zda bylo po fitovací proceduře dosaženo shody (True), či nikoliv (False) s tímto řešením. Faktor spolehlivosti je pak zaveden jako poměr počtu úspěšných (True) ku celkovému (True+False) počtu výpočtů. Ukazuje se, že existují takové kombinace optických parametrů zkoumaných vrstev, že lze ke shodě s ideálním řešením dojít téměř vždy, nezávisle na volbě startovacího vektoru parametrů (např. situace pro tloušťku SiO2 vrstvy na Si dSiO2 = 130 nm). Na druhé straně je možné identifikovat i tloušťky, pro které je vyhledání minima odchylek na tomto počátečním parametru silně závislé (např. dSiO2 = 485 nm). Pro srovnání je rovněž uveden faktor spolehlivosti pro vyhodnocování vrstvy TiO2 na Si. Výsledky, prezentované v tomto příspěvku, byly určovány pomocí vlastního programu reliabiliTy.exe, který se ukázal jako vhodný nástroj k provádění předběžné analýzy citlivosti fitovací metody na volbu startovacích parametrů vrstev.
Article deals with a sensitivity analysis of fitting procedure: theoretical model of reflectance is fitted to an „ideal“ data by applying Levenberg - Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model at given set of starting parameters vector. and V článku je popsána základní myšlenka citlivostní analýzy fitovací procedury běžně používané při vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev. Hledání minimální hodnoty sumy čtverců odchylek teoretické závislosti a závislosti získané experimentálně je často negativně ovlivněno výběrem startovacího vektoru optických parametrů. Proto je v příspěvku zaveden a diskutován tzv. faktor spolehlivosti, který vypovídá o pravděpodobnosti nalezení věrohodného výsledku fitováním. Počáteční vektor startovacích parametrů je vybírán z určitého okolí ideálního (známého) řešení a sleduje se, zda bylo po fitovací proceduře dosaženo shody (True), či nikoliv (False) s tímto řešením. Faktor spolehlivosti je pak zaveden jako poměr počtu úspěšných (True) ku celkovému (True+False) počtu výpočtů. Ukazuje se, že existují takové kombinace optických parametrů zkoumaných vrstev, že lze ke shodě s ideálním řešením dojít téměř vždy, nezávisle na volbě startovacího vektoru parametrů (např. situace pro tloušťku SiO2 vrstvy na Si dSiO2 = 130 nm). Na druhé straně je možné identifikovat i tloušťky, pro které je vyhledání minima odchylek na tomto počátečním parametru silně závislé (např. dSiO2 = 485 nm). Pro srovnání je rovněž uveden faktor spolehlivosti pro vyhodnocování vrstvy TiO2 na Si. Výsledky, prezentované v tomto příspěvku, byly určovány pomocí vlastního programu reliabiliTy.exe, který se ukázal jako vhodný nástroj k provádění předběžné analýzy citlivosti fitovací metody na volbu startovacích parametrů vrstev.
This article deals with the utilizing of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) for the detection of spectrum for Strongly Localized Photoluminescent Centres (SLFC). These centres may be a vacancies in mono-layer of hexagonal Boron Nitride (h-BN). Therefore, the h-BN sample on quartz substrate was prepared. On this substrate, the h-BN layer is formed to the flakes with a core in the centre. We observed that these cores are radiated as SLFC for the white illumination. In addition, we measured the optical absorption spectra corresponding to the topography of the flake., Tento článek se zabývá využitím rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli (SNOM) k detekci spekter silně lokalizovaných fotoluminiscenčních center (SLFC). Těmito centry mohou být vakance v monovrstvě hexagonálního nitridu boritého (h-BN). Proto byl připraven vzorek h-BN na substrátu křemenného skla. Na tomto substrátu tvoří h-BN vločky s jádrem uprostřed. Bylo objeveno, že pro bílý zdroj osvětlení se tato jádra chovají jako SLFC. Navíc byla naměřena optická absorpční spektra korespondující s topografií vloček., and Poděkování. Autoři děkují Milosi Tothovi, University of Technology Sydney, za poskytnutí vzorků. Práce byla podpořena MŠMT projektem LQ1601 (CEITEC 2020) Národní program udržitelnosti.
Víry jsou fyzikální fenomén vyskytující se v mnoha podobách a velikostech, od galaxií, tornád, vodních vírů až po víry nanometrových rozměrů, které můžeme nalézt například v supravodivých materiálech nebo nanomagnetech., Vortices are a physical phenomenon which are found with many varieties across a large range of sizes, from galaxies to whirlpools and further down to nanoscale vortices which can be found in superconducting materials and nanomagnets.Magnetic vortex structures form in thin-disk shaped ferromag-netic elements where the magnetic moments try to follow the disk shape's boundary. They are characterized by the sense of in-plane magnetization circulation and by the polarity of the vortex core. With each having two possible states, there are four possible stable magnetization configurations. Controlling these states on a sub-nanosecond timescale is currently a hot topic both for fundamental and applied reasons., Michal Urbánek, Jiří Spousta., and Obsahuje seznam literatury
Na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně je od konce devadesátých let minulého století soustavně budována laboratoř povrchů a tenkých vrstev. V současné době tvoří část vědeckého zaměření laboratoře nově se rozvíjející technologický směr: výroba a (fyzikální) charakterizace nanoobjektů (zpravidla objekty mající alespoň jeden z rozměrů v řádu desítek nanometrů). K jejich přípravě se užívá metoda LAO, pomocí níž lze připravit nanostruktury tvořené oxidy na površích kovů a polovodičů. Pro případné průmyslové využití tvorby nanostruktur se jeví perspektivní metoda fokusovaných iontových svazků (metoda FIB), kterou se pracovníci z ÚFI FSI zabývají ve spolupráci s firmou TESCAN Brno (komerční prezentace firmy je na obálce tohoto čísla)., Jiří Spousta., and Obsahuje seznam literatury
A new apparatus for measuring magnetic properties of thin films has been built at the Institute of Physical Engineering (IPE) of BUT recently. In this paper we show a method for measuring magnetic properties by the longitudinal magneto-optical Kerr effect (MOKE). This method is based on polarization rotation of a light beam with rectilinear polarization reflected from a magnetic material. This so called Kerr rotation is proportional to the magnetization of the sample. For investigation of local magnetic properties of microstructures a microobjective focusing the beam on the sample is used. The sensitive area is limited by the spot diameter of cca 7 microns. The set-up was tested on magnetic thin films prepared at the IPE. and V uplynulých několika letech byla na ÚFI FSI VUT v Brně zkonstruována sestava pro měření magnetických vlastností tenkých vrstev. V článku prezentovaná metoda měření je založena na longitudinálním magnetooptickém Kerrově jevu, kdy při odrazu lineárně polarizovaného světla na magnetické látce dochází ke stočení jeho roviny polarizace. Měřená velikost Kerrovy rotace v proměnném vnějším magnetickém poli, která je v tomto případě úměrná magnetizaci materiálu, udává základní magnetické vlastnosti vrstvy. V poslední době byla sestava rozšířena o možnost určování lokálních magnetických vlastností tenkých vrstev na ploše vzorku o průměru cca 7 μm a testována na tenkých vrstvách deponovaných v místní laboratoři.