Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek

Title:

Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek
Risk and prevention of counterfeit semiconductor components

Creator:

Neumann, Petr and Navrátil, Milan

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:0dc8afc8-00dc-4ac5-b093-0127d3965bb0
uuid:0dc8afc8-00dc-4ac5-b093-0127d3965bb0

Subject:

fraudulent electronic component, counterfeit component detection, visual inspection, X-ray analysis, I-V characteristic, analog signature analysis, reference compone, nepůvodní elektronická součástka, detekce padělků, vizuální kontrola, rentgenová analýza, voltampérová charakteristika, analogová příznaková analýza, and referenční součástka

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

The occurrence of fake products does not affect only consumer products branches nowadays. The electronic systems for industry and for special applications are put at risk by counterfeit electronic components penetration, namely by semiconductor components. Apart from the legal aspect, the counterfeit components represent a serious threat for systems functionality and reliability because of unknown origin and history. We can take as a fraudulent or as a suspicious component any component of unknown origin, which we can find any difference in contrast to the original manufacturer component of the same model. There exist many analytical methods for counterfeit electronic components detection aimed at component features and parameters where the difference is possible to verify. The component authenticity tests can be classified in two main groups, the non-destructive ones and destructive ones. The parametrical tests on different complexity levels represent very efficient evaluation methods. A simplified and condensed version of parametrical test is based on I-V characteristics comparison between a genuine component with known origin and a suspicious component. The article mentions also other methods like X-ray analysis and laser decapsulation for further optical inspection. and Výskyt nepůvodních a napodobených výrobků v dnešní době nepostihuje pouze obory spotřebního zboží. Také elektronické systémy pro průmysl a pro speciální aplikace jsou ohrožovány průnikem nepůvodních elektronických součástek, zvláště polovodičů. Zde kromě právního aspektu hraje roli především ohrožení funkčnosti a spolehlivosti systémů vlivem těchto součástek s nejasným původem a historií. Za nepůvodní elektronickou součástku můžeme považovat jakoukoliv součástku neznámého původu, u které lze nalézt jakýkoliv rozdíl oproti součástce originálního výrobce. Při detekci nepůvodních součástek se používají různé analytické metody zaměřené především na parametry, u nichž nelze paděláním dosáhnout přesné shody s originálním výrobkem. Testy zaměřené na posouzení původnosti určité skupiny součástek můžeme rozdělit na nedestruktivní a destruktivní. Mezi účinné nedestruktivní metody patří elektrické parametrické testy na různých úrovních složitosti. Zjednodušeným, ale přesto účinným testem může být porovnávání voltampérových charakteristik se vzorem, jehož původ je autentický a historie známá. Článek zmiňuje i další metody, jako je rentgenová analýza, zpřístupnění zapouzdřeného sytému na čipu pro optickou kontrolu a další.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

87-90

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2017 Volume:62 | Number:3

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false