The occurrence of fake products does not affect only consumer products branches nowadays. The electronic systems for industry and for special applications are put at risk by counterfeit electronic components penetration, namely by semiconductor components. Apart from the legal aspect, the counterfeit components represent a serious threat for systems functionality and reliability because of unknown origin and history. We can take as a fraudulent or as a suspicious component any component of unknown origin, which we can find any difference in contrast to the original manufacturer component of the same model. There exist many analytical methods for counterfeit electronic components detection aimed at component features and parameters where the difference is possible to verify. The component authenticity tests can be classified in two main groups, the non-destructive ones and destructive ones. The parametrical tests on different complexity levels represent very efficient evaluation methods. A simplified and condensed version of parametrical test is based on I-V characteristics comparison between a genuine component with known origin and a suspicious component. The article mentions also other methods like X-ray analysis and laser decapsulation for further optical inspection. and Výskyt nepůvodních a napodobených výrobků v dnešní době nepostihuje pouze obory spotřebního zboží. Také elektronické systémy pro průmysl a pro speciální aplikace jsou ohrožovány průnikem nepůvodních elektronických součástek, zvláště polovodičů. Zde kromě právního aspektu hraje roli především ohrožení funkčnosti a spolehlivosti systémů vlivem těchto součástek s nejasným původem a historií. Za nepůvodní elektronickou součástku můžeme považovat jakoukoliv součástku neznámého původu, u které lze nalézt jakýkoliv rozdíl oproti součástce originálního výrobce. Při detekci nepůvodních součástek se používají různé analytické metody zaměřené především na parametry, u nichž nelze paděláním dosáhnout přesné shody s originálním výrobkem. Testy zaměřené na posouzení původnosti určité skupiny součástek můžeme rozdělit na nedestruktivní a destruktivní. Mezi účinné nedestruktivní metody patří elektrické parametrické testy na různých úrovních složitosti. Zjednodušeným, ale přesto účinným testem může být porovnávání voltampérových charakteristik se vzorem, jehož původ je autentický a historie známá. Článek zmiňuje i další metody, jako je rentgenová analýza, zpřístupnění zapouzdřeného sytému na čipu pro optickou kontrolu a další.
A set of fourteen large-scale exposures of comet Bennett 1970 II between 1970 April 27 and 30 is evaluated. The solar wind velocity is determined for this period from the aberration angle of the plasma tail. Its radial component had a minimum valuo of 70-100 km/s in the comet's environment: 50° off the ecliptic at a distance of 1 AU from the Sun. This value is 3-4 times less than the satellite data recorded at the Earth's orbit. The two plasma kinks, visible on 1970 April 30 in the comet tail, moved from the nucleus at a mear. radial velocity of 81 and 76 km/s, respectively. No disconnection event appeared in the plasma tail.