Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu

Title:

Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu
Measurement of thin films magnetic properties by magnetooptical Kerr effect

Creator:

Plšek, Radek, Uhlíř, Vojtěch, Urbánek, Michal, Spousta, Jiří, and Šikola, Tomáš

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:620aef56-ccd0-4483-bd57-b91223dd1086
uuid:620aef56-ccd0-4483-bd57-b91223dd1086

Subject:

Longitudinální magnetooptický Kerrův jev, SMOKE, and lokální magnetické vlastnosti tenkých vrstev

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

A new apparatus for measuring magnetic properties of thin films has been built at the Institute of Physical Engineering (IPE) of BUT recently. In this paper we show a method for measuring magnetic properties by the longitudinal magneto-optical Kerr effect (MOKE). This method is based on polarization rotation of a light beam with rectilinear polarization reflected from a magnetic material. This so called Kerr rotation is proportional to the magnetization of the sample. For investigation of local magnetic properties of microstructures a microobjective focusing the beam on the sample is used. The sensitive area is limited by the spot diameter of cca 7 microns. The set-up was tested on magnetic thin films prepared at the IPE. and V uplynulých několika letech byla na ÚFI FSI VUT v Brně zkonstruována sestava pro měření magnetických vlastností tenkých vrstev. V článku prezentovaná metoda měření je založena na longitudinálním magnetooptickém Kerrově jevu, kdy při odrazu lineárně polarizovaného světla na magnetické látce dochází ke stočení jeho roviny polarizace. Měřená velikost Kerrovy rotace v proměnném vnějším magnetickém poli, která je v tomto případě úměrná magnetizaci materiálu, udává základní magnetické vlastnosti vrstvy. V poslední době byla sestava rozšířena o možnost určování lokálních magnetických vlastností tenkých vrstev na ploše vzorku o průměru cca 7 μm a testována na tenkých vrstvách deponovaných v místní laboratoři.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

184-186

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2008 Volume:53 | Number:6

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false