Kvantifikace malých potlučených míst

Title:

Kvantifikace malých potlučených míst
Quantification of small battered sites

Creator:

Kůr, Jan and Jankových, Róbert

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:7fd7cd00-891e-49d7-a968-db8f49cdf8ee
uuid:7fd7cd00-891e-49d7-a968-db8f49cdf8ee

Subject:

defectometry, microscopy, CT, batter, surface defects, defektometrie, mikroskopie, potlučení, and povrchové vady

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

Despite the rapid development of optical methods, visual scattered light is still used in surface defectometry. Its advantage is that it does not require expensive technical equipment, the disadvantage is the great subjective influence of the controller. An untrained eye, especially small defects, will not notice at all, and experienced will quickly get tired. The trend in engineering metrology, especially for mass-produced precision parts, is a 100% inspection to ensure that all non-conforming parts are selected. Visual inspection must be gradually replaced by a special technique. Its development requires detailed 3D defect information. In automated production lines, parts are often battered. We will try to approach this basic defect. and Přes rychlý rozvoj optických metod se v povrchové defektometrii stále používá vizuální kontrola pod rozptýleným světlem. Její předností je, že nevyžaduje drahé technické vybavení, nevýhodou je velký subjektivní vliv kontrolora. Necvičené oko zvláště malé vady vůbec nepostřehne a to rutinované se zase rychle unaví. Trendem ve strojírenské metrologii, zejména u sériově vyráběných precizních dílů, je 100% kontrola zaručující vyselektování všech neshodných dílů. Vizuální kontrola musí být postupně nahrazována speciální technikou. Její vývoj vyžaduje detailní 3D informace o vadách. V automatických výrobních linkách často dochází k potlučení součástek a tuto jednu ze základních vad se pokusíme přiblížit.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

214-215

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2019 Volume:64 | Number:7-8

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false