Search

Start Over Subject mikroskopie

3. Aplikace maticových diodových polí a dataprojektorů v mikroskopii

Creator:
Pokorný, Petr, Šmejkal, Filip, and Mikš, Antonín
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
microscopy, diode matrix, illumination, condenser, mikroskopie, diodové pole, osvětlení, and kondenzor
Language:
Czech
Description:
This paper presents an overview of selected classic methods of microscopic imaging and possibilities for usage of data-projectors or diode matrices as illuminators of microscope’s condenser. and Tento článek představuje přehled vybraných klasických metod zobrazení v mikroskopii a následně možnosti použití dataprojektoru nebo maticového diodového pole jako osvětlovačů kondenzoru.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

5. Comparative study of the effects of salinity and UV radiation on metabolism and morphology of the red macroalga Acanthophora spicifera (Rhodophyta, Ceramiales)

Creator:
Pereira, D. T., Simioni, C., Ouriques, L. C., Ramlov, F., Maraschin, M., Steiner, N., Chow, F., Bouzon, Z. L., and Schmidt, É. C.
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
řasy, metabolity, mikroskopie, Algae, metabolites, microscopy, životaschopnost buněk, tempo růstu, cell viability, growth rate, 2, and 581
Language:
Multiple languages
Description:
Increase of harmful radiation to the Earth’s surface due to ozone depletion results in higher exposure to harmful ultraviolet- B radiation (UV), while fluctuations in seawater salinity may alter water density, ionic concentration, nutrient uptake, and osmotic pressure. This study evaluated the effects of salinity and UV on metabolism and morphology of Acanthophora spicifera (M.Vahl) Børgesen. Water with 30 and 37 psu [g(salt) kg-1(sea water)] was used for experiments during 7 d of exposure to UV (3 h per day). We demonstrated that UV treatment predisposed, irrespective of salinity, A. spicifera to a decrease in its growth rate and cell viability, as well as affected its morphological parameters. After exposure to PAR + UVA + UVB (PAB), samples showed structural changes and damage, such as increasing cell wall thickness and chloroplast disruption. Our results indicate that UV led to dramatic metabolic changes and cellular imbalances, but more remarkable changes were seen in samples exposed to high salinity., D. T. Pereira, C. Simioni, L. C. Ouriques, F. Ramlov, M. Maraschin, N. Steiner, F. Chow, Z. L. Bouzon, É. C. Schmidt., and Obsahuje bibliografii
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

7. Drobnohledy

Creator:
Strouhal, Čeněk and Novák, Vladimír
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
optika, mikroskopie, optics, microscopy, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V minulém roce jsme přinesli výňatek z pamětí brněnského fyzika Vladimíra Nováka. Nyní využíváme příležitosti ukázat v bloku textů věnovaných mikroskopům a mikroskopii pedagogické mistrovství Vladimíra Nováka a jeho učitele Čeňka Strouhala úryvkem z kapitoly o optických přístrojích, kterou Novák zpracoval podle Strouhalových a vlastních přednášek a novější literatury., Čeněk (Vincenc) Strouhal, Vladimír Novák. (V úvodu medailonky obou autorů.), and [Optika. Jednota českých mathematiků a fysiků, Praha 1919, s. 266-278]
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

8. Elektronová mikroskopie - zdroj inspirace ve výuce (nejen) středoškolské fyziky 2

Creator:
Vencelides, Petr and Jurmanová, Jana
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
mikroskopie, fyzika, microscopy, physics, 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
The article presents electron microscopy as a suitable source of inspiration for teaching physics at secondary school. Some specific examples explain the basic physical principles of these (sophisticated) devices. Today, electron microscopy is developing rapidly, and its inclusion in physics textbooks is highly desirable., Petr Vencelides, Jana Jurmanová., and Obsahuje bibliografické odkazy
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

9. Hmotová spektrometrická mikroskopie využívající ablace XUV laserem

Creator:
Burian, Tomáš, Kuznetsov, Ilya, Juha, Libor, Rocca, Jorge J., and Menoni, Carmen S.
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
fyzika, mikroskopie, spektrometrie, lasery, physics, microscopy, spectrometry, lasers, 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
Nedávno byly publikovány první výsledky dosažené pomoci metody využívající pro účely zobrazovací hmotové spektrometrie ablaci zkoumaného materiálu submikronovým svazkem extrémního ultrafialového (XUV) laseru s kapilárním výbojem., Recently, significant advantages have been demonstrated using a compact capillary discharge extreme ultraviolet (XUV) with a wavelength of 46.9 nm for mass spectrometry applications. 26.4 eV energy photons provide efficient single photon ionisation while preserving the structure of molecules and clusters. A radiation absorption depth of tens of nanometres coupled with focusing of the laser beam to -100 nm results in the ablation of atto-litre scale craters, which in turn enables high resolution mass spectral imaging of solid samples. First results obtained with this new mass spectrometry imaging method, developed and implemented at he NSF Engineering Research Center for Extreme Ultraviolet Science and Technology in Fort Collins (CO, USA), are summarised in this brief review., Tomáš Burian, Ilya Kuznetsov, Libor Juha, Jorge J. Rocca, Carmen S. Menoni., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

10. Kvantifikace malých potlučených míst

Creator:
Kůr, Jan and Jankových, Róbert
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
defectometry, microscopy, CT, batter, surface defects, defektometrie, mikroskopie, potlučení, and povrchové vady
Language:
Czech
Description:
Despite the rapid development of optical methods, visual scattered light is still used in surface defectometry. Its advantage is that it does not require expensive technical equipment, the disadvantage is the great subjective influence of the controller. An untrained eye, especially small defects, will not notice at all, and experienced will quickly get tired. The trend in engineering metrology, especially for mass-produced precision parts, is a 100% inspection to ensure that all non-conforming parts are selected. Visual inspection must be gradually replaced by a special technique. Its development requires detailed 3D defect information. In automated production lines, parts are often battered. We will try to approach this basic defect. and Přes rychlý rozvoj optických metod se v povrchové defektometrii stále používá vizuální kontrola pod rozptýleným světlem. Její předností je, že nevyžaduje drahé technické vybavení, nevýhodou je velký subjektivní vliv kontrolora. Necvičené oko zvláště malé vady vůbec nepostřehne a to rutinované se zase rychle unaví. Trendem ve strojírenské metrologii, zejména u sériově vyráběných precizních dílů, je 100% kontrola zaručující vyselektování všech neshodných dílů. Vizuální kontrola musí být postupně nahrazována speciální technikou. Její vývoj vyžaduje detailní 3D informace o vadách. V automatických výrobních linkách často dochází k potlučení součástek a tuto jednu ze základních vad se pokusíme přiblížit.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

Limit your search

Show values starting with
more »

Show values starting with
more »

Show values starting with
more »

Show values starting with
more »

View distribution

Current results range from 1888 to 2015

View larger »