Röntgenová analýza rozhraní v multivrstvových zrkadlách

Title:

Röntgenová analýza rozhraní v multivrstvových zrkadlách
X-ray analysis of interfaces in multilayer mirrors

Creator:

Jergel, Matej, Šiffalovič, Peter, Majková, Eva, and Luby, Štefan

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:a0b905ec-43f0-479c-91c7-5c13ce0eaedb
uuid:a0b905ec-43f0-479c-91c7-5c13ce0eaedb

Subject:

fyzika, physics, 6, and 53

Type:

model:article and TEXT

Format:

print

Description:

This paper describes the application of X-ray specular reflectivity and grazing-incidence small-angle X-ray scattering methods for complex characterization of randomly rough interfaces in multiplayer mirrors. The capability of the microscopic layer growth model to estimate thermal stability and scale interface properities is demonstrated here for an ultra-short period W/B4C mirror. The information obtained is not only crucial for practical applications of mirrors but also brings new knowledge relevant to interface physics., Článok popisuje aplikáciu metód röntgenovej spekulárnej reflektivity a malouhlového röntgenového rozptylu pri šikmom dopade (GISAXS) na komplexnú charakterizáciu náhodne drsných rozhraní v multivrstvových zrkadlách. Na príklade interferenčného multivrstvového zrkadla W/B4C s vel'mi malou periodou sú ukázané možnosti analýzy tepelnej stabiIity a korelačných a škálovacích vlastností rozhraní v rámci mikroskopického modelu rastu vrstiev. Získané informácie sú určujúce pre praktické aplikácie zrkadla a prinášajú tiež nové poznatky z fyziky rozhraní., Matej, Jergel, Peter Šiffalovič, Eva Majková, Štefan Luby., and Obsahuje seznam literatury

Language:

Czech and English

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

230-235

Source:

Československý časopis pro fyziku | 2012 Volume:62 | Number:4

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false