Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev: aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti

Title:

Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev: aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti
Sensitivity analysis of optical parameters fitting procedure

Creator:

Spousta, Jiří, Zlámal, Jakub, Urbánek, Michal, Běhounek, Tomáš, Plšek, Radek, Kalousek, Radek, and Šikola, Tomáš

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:e5df9d4e-3c15-422c-8ca8-93deac1b9b63
uuid:e5df9d4e-3c15-422c-8ca8-93deac1b9b63

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

Article deals with a sensitivity analysis of fitting procedure: theoretical model of reflectance is fitted to an „ideal“ data by applying Levenberg - Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model at given set of starting parameters vector. and V článku je popsána základní myšlenka citlivostní analýzy fitovací procedury běžně používané při vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev. Hledání minimální hodnoty sumy čtverců odchylek teoretické závislosti a závislosti získané experimentálně je často negativně ovlivněno výběrem startovacího vektoru optických parametrů. Proto je v příspěvku zaveden a diskutován tzv. faktor spolehlivosti, který vypovídá o pravděpodobnosti nalezení věrohodného výsledku fitováním. Počáteční vektor startovacích parametrů je vybírán z určitého okolí ideálního (známého) řešení a sleduje se, zda bylo po fitovací proceduře dosaženo shody (True), či nikoliv (False) s tímto řešením. Faktor spolehlivosti je pak zaveden jako poměr počtu úspěšných (True) ku celkovému (True+False) počtu výpočtů. Ukazuje se, že existují takové kombinace optických parametrů zkoumaných vrstev, že lze ke shodě s ideálním řešením dojít téměř vždy, nezávisle na volbě startovacího vektoru parametrů (např. situace pro tloušťku SiO2 vrstvy na Si dSiO2 = 130 nm). Na druhé straně je možné identifikovat i tloušťky, pro které je vyhledání minima odchylek na tomto počátečním parametru silně závislé (např. dSiO2 = 485 nm). Pro srovnání je rovněž uveden faktor spolehlivosti pro vyhodnocování vrstvy TiO2 na Si. Výsledky, prezentované v tomto příspěvku, byly určovány pomocí vlastního programu reliabiliTy.exe, který se ukázal jako vhodný nástroj k provádění předběžné analýzy citlivosti fitovací metody na volbu startovacích parametrů vrstev.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

225-228

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2009 Volume:54 | Number:7-8

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false