Search

Start Over Coverage 79-85

2. Mikroskopie magnetických sil

Creator:
Hendrych, Aleš, Kubínek, Roman, and Vůjtek, Milan
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
magnetické materiály, mikroskopie magnetických sil, and nanostruktury
Language:
Czech
Description:
The last two decades mark a huge progress of the scanning probe microscopy (SPM). Specific techniques, like scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM), magnetic force microscopy (MFM) etc. merely approved their uniqueness in achieving a submicron resolution. The magnetic force microscopy represents one of the most elegant methods to study surface magnetic properties with high resolution and easily prepared specimen. The present paper is lightning up some recent MFM- -related studies performed in the field of nano-magnetic imaging and bioapplications. and Mikroskopie založené na sondě skenující povrch (SPM) zaznamenaly v průběhu posledních dvaceti let masivní rozvoj. Jednotlivé techniky jako skenující tunelovací mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), mikroskopie magnetických sil (MFM) a další pouze potvrdily svou jedinečnost v rámci dosahovaných rozlišení na atomové úrovni. A právě mikroskopie magnetických sil představuje jednu z nejelegantnějších metod studia magnetických vlastností povrchů při vysokém rozlišení a nenáročné přípravě vzorku.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public