Mikroskopie magnetických sil

Title:

Mikroskopie magnetických sil
Magnetic force microscopy and its aptitude for nano-magnetic studies

Creator:

Hendrych, Aleš, Kubínek, Roman, and Vůjtek, Milan

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:0c4577cf-8804-4074-9c36-f408b85c8849
uuid:0c4577cf-8804-4074-9c36-f408b85c8849

Subject:

magnetické materiály, mikroskopie magnetických sil, and nanostruktury

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

The last two decades mark a huge progress of the scanning probe microscopy (SPM). Specific techniques, like scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM), magnetic force microscopy (MFM) etc. merely approved their uniqueness in achieving a submicron resolution. The magnetic force microscopy represents one of the most elegant methods to study surface magnetic properties with high resolution and easily prepared specimen. The present paper is lightning up some recent MFM- -related studies performed in the field of nano-magnetic imaging and bioapplications. and Mikroskopie založené na sondě skenující povrch (SPM) zaznamenaly v průběhu posledních dvaceti let masivní rozvoj. Jednotlivé techniky jako skenující tunelovací mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), mikroskopie magnetických sil (MFM) a další pouze potvrdily svou jedinečnost v rámci dosahovaných rozlišení na atomové úrovni. A právě mikroskopie magnetických sil představuje jednu z nejelegantnějších metod studia magnetických vlastností povrchů při vysokém rozlišení a nenáročné přípravě vzorku.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

79-85

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2007 Volume:52 | Number:3

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false