The article deals with the design of an optical system for the transformation of complicated light from laser diode bar into an optical fiber which can be used for fiber diode pumped lasers. The focus is on the simulation and analysis of inaccuracies in the manufacturing of optical elements by moulding, especially in the manufacturing of pressing moulds by an ultra-precise CNC machine and in the imperfect transfer of the shape from the mould to a glass element. and Článek se věnuje návrhu optické soustavy pro transformaci komplikovaného záření z laserové diody do optického vlákna použitelné pro vláknové diodou čerpané lasery. Zaměření je kladeno na simulace a analýzu nepřesností vzniklých při výrobě optických prvků pomocí lisování, zejména pak při výrobě lisovacích forem na ultrapřesném obráběcím stroji a při nedokonalém přenesení tvaru formy na výlisek.
Disc-shaped metal elements, composed of different types of steel - stainless 1.4305 and 1.4301, tool steel toolox 44 - were polished to a high quality. Polishing was performed by means of classical approach of autorotational horizontal-swinging kinematics, using polishing cloth and diamond polishing slurries. Elements of all tested types of steel exhibited surface damage described as pitting. This form of defects was least significant for elements made of the harder tool steel, which exhibited overall best quality of polished surface. Furthermore, experiments with polishing of NiP layers deposited on already polished elements’ surface were described. and Kovové elementy ve tvaru disků, zhotovené z nerezových ocelí 1.4305 a 1.4301 a nástrojové oceli toolox 44, byly leštěny na vysokou kvalitu. Leštění bylo provedeno klasickými postupy autorotační kývavé kinematiky s použitím textilní podložky a diamantových lešticích disperzí. U elementů všech typů ocelí byl pozorován výskyt povrchových defektů v podobě tzv. pittingu. Nejméně výrazná byla tato forma defektů u elementů z tvrdší nástrojové oceli, které vykazovaly celkově nejlepší kvalitu leštěných povrchů. Dále jsou popsány experimenty leštění vrstev NiP nanesených na již vyleštěných ocelových elementech.
The paper deals with the development and description of a multichromatic monitoring system used as part of vacuum deposition chambers for the in-situ measurement of thin film thicknesses. The monitoring system is based on the measurement of the reflectance/ transmittance of the sample at several points of the spectrum, determined by the number and wavelength of the lasers used. Measurement takes place at all wavelengths at the same time, allowing for its high speed. The main benefit of our monitoring system is a significant reduction of measurement uncertainty, compared to conventional monochromatic measurement. In addition, it gives a rough idea of the spectral characteristic of the sample. The article deals mainly with technical implementation. The algorithm for accurately determining the thickness of the thin layer is not explained here. and Článek pojednává o vývoji a popisu multifrekvenčního měřiče, použitého jako součást vakuových depozičních komor pro průběžné měření tlouštěk tenkých vrstev. Měřič je založený na měření odraznosti/ propustnosti vzorku v několika bodech spektra, určených počtem a vlnovou délkou použitých laserů. Měření probíhá na všech vlnových délkách současně, čímž je možné dosáhnout vysoké rychlosti. Hlavním přínosem našeho měřiče je výrazná redukce nejistoty ve srovnání s klasickým monofrekvenčním měřením. Navíc dává i hrubou představu o spektrální charakteristice vzorku. Článek se zabývá především technickou realizací. Algoritmus pro přesné stanovení tloušťky tenké vrstvy zde vysvětlen není.
A combination of titanium dioxide (TiO2 ) and silicon dioxide (SiO2 ) has been used for decades in the field of optical interference filters. Their combination is a frequently used deposition method for most application in the visible (VIS) and near infrared (NIR) spectral range. They are applied for simple coatings such as antireflective coatings as well as for demanding coatings consisting of dozens of layers. In spite of its common usage we found undescribed optical losses in our coatings. The losses appeared at the time when we introduced the combination in our laboratory process using the ion beam assisted deposition (IBAD) with e-gun. We did not find any piece of published information which covers using combination of TiO2 and SiO2 . In this article we focus on modifying process parameters so that the losses are reduced. and Kombinace oxidu titaničitého (TiO2 ) a oxidu křemičitého (SiO2 ) se pro interferenční filtry používá již desítky let. Ve většině aplikací pro oblast viditelného a blízkého infračerveného spektra je tato kombinace nejlepší volbou, a to jak pro jednoduché filtry, tak i pro složité soustavy desítek vrstev. Přesto se při depozici těchto materiálů vakuovým odpařováním z elektronového děla s iontovou asistencí v naší laboratoři objevil ve vrstvách problém nepředpokládaných ztrát světla. Podobný jev nebyl, dle naší rešerše, popsán v žádné dostupné literatuře. Článek popisuje experimenty směřující k nalezení původu těchto ztrát a jejich potlačení.
Using aluminum films combined with protective dielectric film is amethod of choice for many reflective applications in the visible (VIS) and the near infrared (NIR) range. An optical defect occurred during the introduction of the deposition aluminum (Al) films protected by a silicon dioxide (SiO2 ) protective film in our laboratory. Both films were deposited using an electron beam evaporator. S iO2 layers were deposited using the ion beam assisted deposition (IBAD). The results were not satisfactory. Produced films were matting and struggled with a significant reflectance decrease. The article presents an experimental approach which has been performed in order to eliminate the matting effect and the reflectance decrease. and Hliníková vrstva v kombinaci s ochrannou dielektrickou vrstvou je jedna z nejčastěji používaných možností pro výrobu reflexních prvků v oblasti viditelného a blízkého infračerveného světla. Při depozici těchto vrstev v naší laboratoři byl pozorován problém s degradací kvality ve formě viditelného zašednutí a výrazné ztráty reflektance. Hliníková i dielektrické vrstvy jsou nanášeny vakuovým odpařováním z elektronového děla. V případě dielektrické vrstvy je pak použita varianta zvaná IBAD (Ion Beam Assisted Deposition). Článek představuje výsledky experimentů, kterými byl nalezen optimální procesní postup eliminující degradaci optické kvality deponovaných vrstev.
For the precise glass molding it is necessary to use forms coated with an antiadhesive layer. There are many layers with antiadhesive properties known today, but each one has slightly different properties and is therefore more suitable for various applications. The objective of testing antiadhesive layers in Toptec, Institute of Plasma Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic, is to find optimal layers for precise glass molding that they are most suitable for use with the currently used mold and glass material. and Pro lisování optických elementů je nezbytné použít formy povlakované antiadhezní vrstvou. Vrstev s antiadhezními vlastnostmi je dnes známa celá řada, ale každá z nich má mírně odlišné vlastnosti a je tedy pro různé aplikace vhodnější. Cílem testování antiadhezních vrstev v Toptec, Ústavu fyziky plazmatu, Akademie věd ČR, je nalezení optimálních vrstev pro lisování optických komponent tak, aby byly co nejvhodnější pro použití s aktuálně používaným materiálem formy a skla.