V tomto příspěvku je popsáno využití mikroskopie založené na detekci atomárních sil (AFM) pro přípravu a pozorování nanostruktur vytvořených anodickou lokální oxidací na titanu. Je ukázáno, že v souladu s Cabrerovou-Mottovou teorií výška oxidových vrstev vytvořených pomocí AFM lineárně vzrůstá s napětím přiloženým mezi hrot a vzorek, zatímco rozměr pološířky tuto závislost nevykazuje. Dále je vynesena spojitost mezi výškou a pološířkou oxidových čar v závislosti na rychlosti pohybu hrotu po vzorku v průběhu oxidace. Rovněž je popsáno chování odporu tenkých vodivých kanálků vzhledem k jejich šířce., David Škoda, Filip Lopour, Radek Kalousek, David Burian, Jiří Spousta, Tomáš Šikola, František Matějka., and Obsahuje seznam literatury
This paper presents an overview of selected classic methods of microscopic imaging and possibilities for usage of data-projectors or diode matrices as illuminators of microscope’s condenser. and Tento článek představuje přehled vybraných klasických metod zobrazení v mikroskopii a následně možnosti použití dataprojektoru nebo maticového diodového pole jako osvětlovačů kondenzoru.
Vrstvy polovodičů II-VI hrají významnou roli v oblasti mikroelektroniky a optometrie. Zvláště pak vrstvy ZnSe a ZnTe jsou v praxi aplikovány velmi často. Při těchto aplikacích je většinou vyžadována jejich vysoká kvalita. Proto je nutné mít k dispozici analytické metody umožňující posuzovat kvalitu vrstev ZnSe a ZnTe. Ukazuje se, že metoda mikroskopie atomové síly (AFM) patří mezi ty metody, pomocí nichž lze efektivně studovat defekty ve stuktuře zmíněných vrstev. V tomto příspěvku budeme prezentovat výsledky týkající se aplikace metody AFM při charakterizaci horních rozhraní tenkých vrstev ZnTe a ZnSe připravených metodou molekulové epitaxie na podložky z monokrystalu GaAs. Ukážeme, že v případě vrstev ZnSe jsou jejich horní rozhraní náhodně drsná a že jsou zároveň pokryta mikroskopickými objekty. Navíc bude provedena kvantitativní analýza drsnosti rozhraní vrstev ZnSe. Do výpočtu kvantitativních charakteristik drsnosti budou zahrnuty i zmíněné objekty, které jsou tvořeny amorfním GaO. Dále ukážeme, že u vrstev ZnTe jsou jejich horní rozhraní komplikovanějšího charakteru než u vrstev ZnSe. Kvantitativní charakterizace morfologie horních rozhraní vrstev ZnTe provedená na základě snímků AFM bude rovněž prezentována., Ivan Ohlídal, Daniel Franta, Petr Klapetek., and Obsahuje seznam literatury
The paper is focused into the area of experimental research of planar waveguide structures. Dark mode spectroscopy technique, which is based on excitation of guided modes, is presented here in detail. The physical aspects of the method are shortly described with a special focus on coupling prism theory. The main attention of our contribution is devoted to the application of new mathematical optimization methods related to guided modes and the determination of refractive indices and thicknesses of thin films. Keywords: planar waveguide structure, prism coupling, dark mode spectroscopy, non-linear optimization. and Příspěvek je zaměřen do oblasti experimentálního studia tenkovrstvých planárních vlnovodných struktur. Je zde prezentována metoda tmavé módové spektroskopie, která je založena na vybuzení spektra vedených módů ve zkoumané vrstvě. V krátkosti jsou podány základní fyzikální aspekty této metody se zaměřením na teorii hranolové vazby. Detailní pozornost je věnována vlastnímu vyhodnocení naměřených módových spekter a použití matematických optimalizačních metod při určení indexu lomu a tloušťky zkoumaných vlnovodných vrstev.