Search

Start Over Subject 6 Subject mikroskopie

2. Drobnohledy

Creator:
Strouhal, Čeněk and Novák, Vladimír
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
optika, mikroskopie, optics, microscopy, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V minulém roce jsme přinesli výňatek z pamětí brněnského fyzika Vladimíra Nováka. Nyní využíváme příležitosti ukázat v bloku textů věnovaných mikroskopům a mikroskopii pedagogické mistrovství Vladimíra Nováka a jeho učitele Čeňka Strouhala úryvkem z kapitoly o optických přístrojích, kterou Novák zpracoval podle Strouhalových a vlastních přednášek a novější literatury., Čeněk (Vincenc) Strouhal, Vladimír Novák. (V úvodu medailonky obou autorů.), and [Optika. Jednota českých mathematiků a fysiků, Praha 1919, s. 266-278]
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

3. Elektronová mikroskopie - zdroj inspirace ve výuce (nejen) středoškolské fyziky 2

Creator:
Vencelides, Petr and Jurmanová, Jana
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
mikroskopie, fyzika, microscopy, physics, 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
The article presents electron microscopy as a suitable source of inspiration for teaching physics at secondary school. Some specific examples explain the basic physical principles of these (sophisticated) devices. Today, electron microscopy is developing rapidly, and its inclusion in physics textbooks is highly desirable., Petr Vencelides, Jana Jurmanová., and Obsahuje bibliografické odkazy
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

4. Hmotová spektrometrická mikroskopie využívající ablace XUV laserem

Creator:
Burian, Tomáš, Kuznetsov, Ilya, Juha, Libor, Rocca, Jorge J., and Menoni, Carmen S.
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
fyzika, mikroskopie, spektrometrie, lasery, physics, microscopy, spectrometry, lasers, 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
Nedávno byly publikovány první výsledky dosažené pomoci metody využívající pro účely zobrazovací hmotové spektrometrie ablaci zkoumaného materiálu submikronovým svazkem extrémního ultrafialového (XUV) laseru s kapilárním výbojem., Recently, significant advantages have been demonstrated using a compact capillary discharge extreme ultraviolet (XUV) with a wavelength of 46.9 nm for mass spectrometry applications. 26.4 eV energy photons provide efficient single photon ionisation while preserving the structure of molecules and clusters. A radiation absorption depth of tens of nanometres coupled with focusing of the laser beam to -100 nm results in the ablation of atto-litre scale craters, which in turn enables high resolution mass spectral imaging of solid samples. First results obtained with this new mass spectrometry imaging method, developed and implemented at he NSF Engineering Research Center for Extreme Ultraviolet Science and Technology in Fort Collins (CO, USA), are summarised in this brief review., Tomáš Burian, Ilya Kuznetsov, Libor Juha, Jorge J. Rocca, Carmen S. Menoni., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

5. Nízkovoltový prozařovací elektronový mikroskop

Creator:
Štěpán, Petr
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
nauka o materiálu, mikroskopie, materials science, microscopy, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V elektronových prozařovacích mikroskopech pro studium biologických objektů nebo polymerových struktur se standardně používají elektrony s energií kolem 100 keV. Pozorované tenké vzorky v nich mají velmi nízký kontrast, proto musí být konstrastovány těžkými kovy. Tento postup však může přinést množství artefaktů, neboť v tomto případě již nepozorujeme samotný vzorek, ale těžké atomy, které obklopují struktury ve vzorku a tím je zvýrazňují. Pro mnohé aplikace tato metoda dává dobré výsledky, avšak s rostoucími nároky na zkoumané objekty, například při studiu kompozitních materiálů, je vhodné pozorovat tyto objekty v co nejméně pozměněném stavu., Petr Štěpán., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

7. Růst atomárních struktur s nízkou dimenzí: využití Monte Carlo simulací a řádkovací tunelové mikroskopie

Creator:
Kocán, Pavel, Sobotík, Pavel, and Ošťádal, Ivan
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
mikroskopie, microscopy, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V referátu přinášíme shrnutí některých našich výsledků z oblasti studia růstu atomárních struktur kombinací experimentálního a teoretického přístupu. Řádkovací tunelová mikroskopie (STM) nám poskytuje atomárně rozlišenou informaci v reálném prostoru, která umožňuje navržení modelu růstu, jenž je dále rozvíjen pomocí kinetických Monte Carlo (KMC) simulací., We briefly summarize our results concerning the field of growth of atomic structures, using a combination of experimental and theoretical approaches. Scanning tunnelling microscopy (STM) provides atomically resolved information in real space allowing us to propose growth models, which can be further developed using kinetic Monte Carlo (KMC) simulations., Pavel Kocán, Pavel Sobotík, Ivan Ošťádal., and Obsahuje bibliografii
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

9. Tunelová mikroskopie a spektroskopie v elektrochemii

Creator:
Weber, Jan, Pelouchová, Hana, and Janda, Pavel
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
elektrochemie, spektroskopie, mikroskopie, electrochemistry, spectroscopy, microscopy, 6, and 53
Language:
Czech
Description:
V práci jsou ukázány možnosti distanční a napěťové tunelové spektroskopie na vzduchu a v elektrolytu. Jako příklad je uvedena distanční tunelová spektroskopie zlata v kyselině sírové a napěťová tunelová spektroskopie zlata na vzduchu a anatasu ve fosfátovém pufru., Jan Weber, Hana Pelouchová, Pavel Janda., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

10. Využití koherentních difrakčních metod v mikroskopii

Creator:
Odstrčil, Michal
Format:
print, bez média, and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
fyzika, mikroskopie, koheze (fyzika), physics, microscopy, cohesion (physics), 6, and 53
Language:
Czech and English
Description:
Článek pojednává o principech a provedení koherentních difrakčních metod pro účely zobrazování mikroskopických objektů. Donedávna šlo o techniky využívané spíše jen výjimečně. S rozvojem a stále rostoucí dostupností výkonových zdrojů koherentního krátkovlnného záření, především vysokých harmonických (high-order harmonics) a rentgenových laserů různých typů. však nachází stále širší uplatnění., In the last decade, the field of microscopy has experienced a revolution in the application of coherent diffractive imaging (CDI) methods. In particular, thanks to the availability of high brilliance short wavelength sources, CDI is now used for a large number of applications such as biological imaging, material research or nanoscale investigation of magnetic domains. Furthermore, the recent development of high brightness X-ray and EUV laboratory sources will extend the applications of short wavelength CDI from large facilities, such as synchrotrons, to small laboratories and universities., Michal Odstrčil., and Obsahuje seznam literatury
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public