This paper reports on phase retrieval method in non-nulling dual-wavelength interferometry. It uses synthetic phase as shape estimation for determination of fringe orders within every pixel. The fringe order map is subsequently used for unwrapping of phase measured at shorter wavelengths. It was experimentally shown that even for inaccurate synthetic phase, the computed phase for short wavelength is correct. The key point is analysis of phase fields in spatial derivatives where the sensitivity to phase distortions is lower instead of analyzing the phase fields themselves. and Tento příspěvek popisuje metodu získávání a zpracování fáze v interferometrii s dvěma vlnovými délkami. Přístup, nazývaný hierarchická demodulace, využívá syntetickou fázi jako odhad pro stanovení celočíselného násobku 2p v rámci každého pixelu, čímž lze dosáhnout demodulace fázové mapy i v případě podvzorkovaného interferogramu. Standardní procedura hierarchického rozbalení předpokládá nízké zkreslení syntetické fáze, což není v praxi vzhledem k disperzi a dalším vlivům často splněno. Nový přístup popsaný v tomto článku přenáší problém demodulace fáze do prostoru prostorových změn (derivace) fáze, kde je přirozeně vliv zkreslení nižší. Bylo experimentálně ukázáno, že i při nepřesné syntetické fázi je demodulovaná fáze správná.
This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metallic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excels with its wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision. and Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, speciálně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.