The correlation between optical and electrical properties of solar cells was studied in this paper. Microplasma noise appears in solar cells when there is certain bias voltage applied to the junction which is less then breakdown voltage of the whole nondefect area of the junction. This effect can be accompanied with radiation emission from local areas of PN junction. The aim of the study is to verify that microplasma noise (electrical signal) induces radiation emission (optical signal). and V tomto je článku zkoumána korelace mezi optickými a elektrickými projevy solárních článků. Při určitých hodnotách závěrného napětí, které je menší než průrazné napětí celé nedefektní oblasti přechodu, dochází u solárních článků k výskytu šumu mikroplazmatu. Tento jev může být doprovázen emisí záření z lokálních oblastí PN přechodu. Předmětem výzkumu je ověřit, zda šum mikroplazmatu (elektrický signál) způsobuje emisi záření (optický signál).
The paper introduces a method for fabrication of microscopic cathode based on Schottky field emission. Schottky emission is the predominant electron source technology in actual focused electron beam equipment, including scanning electron microscopy (SeM), (TeM) transmission electron microscopy, auger systems, and semiconductor inspection tools. achieving proper results requires an electron source with the following ideal properties: small source size, low electron emission energy spread, high brightness (beam current per solid angle), low noise and long-term stability, simple and low-cost operation. recently new technical modifications have been made in order to improve current fabrication methods. Widely used ''drop off'' method was further improved in order to allow reproducible tip fabrication with ultra sharp tips which radius reaches tens of nanometres. and Příspěvek se zabývá metodou automatizované výroby Schottkyho katod pro potřeby elektronové mikroskopie. Mezi jednotlivými elektronovými zdroji začínají v poslední době převládat právě katody založené na principu Schottkyho emise. Především se jedná o SEM (rastrovací elektronovou mikroskopii), TEM (transmisní elektronovou mikroskopii), Augerovy systémy a o systémy pro diagnostiku v polovodičovém průmyslu. Nároky na parametry přístrojů stále narůstají, z čehož přirozeně vyplývá i potřeba kvalitního elektronového zdroje o malé velikosti, nízké energii rozptýlených elektronů, vysoké svítivosti, s nízkým šumem, dlouhodobě teplotně stabilního a především s nízkými provozními náklady. Dosud byly za účelem zlepšení spolehlivosti přípravy implementovány mnohé technické modifikace související s výrobou a úpravou hrotů katod. Široce používané elektrochemické leptání metodou „drop off“ bylo dále zdokonaleno, aby umožnilo reprodukovatelnou výrobu hrotů o poloměru v řádech desítek nm.