The correlation between optical and electrical properties of solar cells was studied in this paper. Microplasma noise appears in solar cells when there is certain bias voltage applied to the junction which is less then breakdown voltage of the whole nondefect area of the junction. This effect can be accompanied with radiation emission from local areas of PN junction. The aim of the study is to verify that microplasma noise (electrical signal) induces radiation emission (optical signal). and V tomto je článku zkoumána korelace mezi optickými a elektrickými projevy solárních článků. Při určitých hodnotách závěrného napětí, které je menší než průrazné napětí celé nedefektní oblasti přechodu, dochází u solárních článků k výskytu šumu mikroplazmatu. Tento jev může být doprovázen emisí záření z lokálních oblastí PN přechodu. Předmětem výzkumu je ověřit, zda šum mikroplazmatu (elektrický signál) způsobuje emisi záření (optický signál).
Experiments were carried out for n-channel CMOS technology. Electron concentration in the channel decreases linearly from the source to the drain contact. Diffusion current component is independent on the x-coordinate and it is equal to the drift current component for the low electric field. Lateral component of the electric field intensity is inhomogeneous in the channel and it has a minimum value near the source contact and increases with the distance from the source to the drain. It reaches maximum value near the drain electrode. and Článek se zabývá transportem nosičů náboje v kanálu tranzistoru typu MOSFET za předpokladu, že pohyblivost elektronů nezávisí na intenzitě podélného elektrického pole, určeného napětím na kolektoru a koncentrace elektronů v kanálu je exponenciální funkcí rozdílového napětí mezi elektrodou hradla a křemíkového substrátu. V tomto případě je celkový proud složen z proudu driftového a difuzního a je určen poměr mezi oběma složkami. Za těchto předpokladů je odvozeno rozdělení koncentrace nosičů a závislost napětí na poloze v kanálu.
The paper describes an experimental electron gun which is based on a cold auto-emission cathode made from polymer-graphite. This relatively modern composite material from which micro-pencil refills are traditionally made contains a polymer-based binding agent and graphite flakes with an up to 80 % content of sp3 hybridized carbon, which makes it seem a highly suitable material for electrode manufacture in general. In this article, we discuss the function of a graphite cathode in connection with the use of a gun in electron optical equipment, e.g. electron microscopes. Cathode parameters are discussed mainly in connection with undesirable impacts which generally occur in free-electron sources at room temperature. We also discuss specific aspects of the polymer graphite use. and Příspěvek popisuje experimentální elektronovou trysku, která je založená na autoemisní studené katodě vyrobené z polymerního grafitu. Tento relativně moderní kompozitní materiál, který se běžně používá pro výrobu náplně do mikrotužek, se skládá z pojiva na bázi polymeru a z grafitových vloček, které obsahují až 80 % sp3 hybridizovaného uhlíku, což se jeví jako velice vhodný materiál pro výrobu elektrod obecně. V tomto článku diskutujeme funkci grafitové katody s ohledem na možné využití trysky v elektronově optických zařízeních, jako je např. elektronový mikroskop. Parametry katody jsou diskutovány především ve spojitosti s nežádoucími vlivy, které se objevují obecně u zdrojů volných elektronů provozovaných za pokojové teploty, a dále diskutujeme konkrétní aspekty spojené s použitím polymerního grafitu.
The paper introduces a method for fabrication of microscopic cathode based on Schottky field emission. Schottky emission is the predominant electron source technology in actual focused electron beam equipment, including scanning electron microscopy (SeM), (TeM) transmission electron microscopy, auger systems, and semiconductor inspection tools. achieving proper results requires an electron source with the following ideal properties: small source size, low electron emission energy spread, high brightness (beam current per solid angle), low noise and long-term stability, simple and low-cost operation. recently new technical modifications have been made in order to improve current fabrication methods. Widely used ''drop off'' method was further improved in order to allow reproducible tip fabrication with ultra sharp tips which radius reaches tens of nanometres. and Příspěvek se zabývá metodou automatizované výroby Schottkyho katod pro potřeby elektronové mikroskopie. Mezi jednotlivými elektronovými zdroji začínají v poslední době převládat právě katody založené na principu Schottkyho emise. Především se jedná o SEM (rastrovací elektronovou mikroskopii), TEM (transmisní elektronovou mikroskopii), Augerovy systémy a o systémy pro diagnostiku v polovodičovém průmyslu. Nároky na parametry přístrojů stále narůstají, z čehož přirozeně vyplývá i potřeba kvalitního elektronového zdroje o malé velikosti, nízké energii rozptýlených elektronů, vysoké svítivosti, s nízkým šumem, dlouhodobě teplotně stabilního a především s nízkými provozními náklady. Dosud byly za účelem zlepšení spolehlivosti přípravy implementovány mnohé technické modifikace související s výrobou a úpravou hrotů katod. Široce používané elektrochemické leptání metodou „drop off“ bylo dále zdokonaleno, aby umožnilo reprodukovatelnou výrobu hrotů o poloměru v řádech desítek nm.
In the previous paper, a design of the special amplifier, intended for pyroelectric signal measurement, has been presented. [1] This paper presents the results, achieved using this amplifier for the measurements of signal characteristics of pyroelectric sensors in our testing lab. The amplifier is being used for the measurements connected to the solution to the specific tasks i.e.: Development of technology of spatial localization of various infrared sources, testing of infrared sources and their reliability, moistening immunity, signal-noise measurement under different condition etc. and V předcházejícím článku byl předložen návrh speciálního předzesilovače navrženého pro účely měření pyroelektrik. Tento článek předvádí výsledky dosažené za pomoci tohoto zesilovače signálu ze snímačů v naší testovací laboratoři. Zesilovač je používán pro nejrůznější měřicí úlohy, např. pro technologii prostorové lokalizace infračervených zářičů, pro testování infračervených zdrojů záření a jejich spolehlivosti, při testování odolnosti krytu snímače proti navlhání, pro měření snímače za nejrůznějších podmínek atd.
In this paper, a theoretical approach of a wideband preamplifier using a high-end operation amplifier OPA847 will be presented. This device is designed to be used for a low noise, wide band measuring. The level of optimization is based on a noise model for the electrical part of the receiver. During the process of amplifier designing, all the noise components have been investigated separately, using operational amplifiers models. Although this preamplifier was designed to serve for the purposes of flame sensors evaluate, it can be also used to other purposes requiring wide band amplifier with low noise, under only a minimal modification. and V tomto příspěvku bych rád přiblížil teoretický postup návrhu
širokopásmového předzesilovače, využívajícího moderní integrovaný
předzesilovač OPA847, který je určen pro nízkošumová
měření. Stupeň optimalizace je založen na šumovém modelu pro
elektrickou část přijímače. Během návrhu zesilovače byla každá
šumová složka zkoumána zvlášť s využitím modelu operačního
zesilovače. Přestože byl tento předzesilovač navržen pro účely
měření detektorů plamene. Může být s výhodou využit všude jinde,
kde je vyžadován širokopásmový, nízkošumový předzesilovač a to
jen s minimálními úpravami.