Measurement of thin layer AlF3 parameters from reflectance spectrum

Title:

Measurement of thin layer AlF3 parameters from reflectance spectrum
Meranie parametrov tenkej vrstvy AlF3 zo spektra odraznosti

Creator:

Ágh, Matúš and Podloucký, Jan

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:ae61f519-807e-40d7-a7a7-12de9aee43ab
uuid:ae61f519-807e-40d7-a7a7-12de9aee43ab

Subject:

reflectance, thin film, spectrophotometer, refractive index, reflektancia, tenká vrstva, spektrofotometer, and index lomu

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

Here experience and results achieved by measurement and subsequent calculation of optical parameters of AlF3 thin film on SF1-glass substrate are given. and Predkladáme výsledky z merania a následných výpočtov optických parametrov tenkej vrstvy AlF3 na substráte skla SF1. K nameranému priebehu odrazivosti povrstvenej vzorky bol fitovaný simulačný model odrazivosti jednoduchej tenkej vrstvy na semi-infinitnom substráte. Výsledný priebeh indexu lomu a hrúbky vrstvy bol porovnávaný pre tri merania v rôznych spektrálnych šírkach.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

48-49

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2017 Volume:62 | Number:2

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false