1. Measurement of thin layer AlF3 parameters from reflectance spectrum
- Creator:
- Ágh, Matúš and Podloucký, Jan
- Format:
- bez média and svazek
- Type:
- model:article and TEXT
- Subject:
- reflectance, thin film, spectrophotometer, refractive index, reflektancia, tenká vrstva, spektrofotometer, and index lomu
- Language:
- Czech
- Description:
- Here experience and results achieved by measurement and subsequent calculation of optical parameters of AlF3 thin film on SF1-glass substrate are given. and Predkladáme výsledky z merania a následných výpočtov optických parametrov tenkej vrstvy AlF3 na substráte skla SF1. K nameranému priebehu odrazivosti povrstvenej vzorky bol fitovaný simulačný model odrazivosti jednoduchej tenkej vrstvy na semi-infinitnom substráte. Výsledný priebeh indexu lomu a hrúbky vrstvy bol porovnávaný pre tri merania v rôznych spektrálnych šírkach.
- Rights:
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public