Here experience and results achieved by measurement and subsequent calculation of optical parameters of AlF3 thin film on SF1-glass substrate are given. and Predkladáme výsledky z merania a následných výpočtov optických parametrov tenkej vrstvy AlF3 na substráte skla SF1. K nameranému priebehu odrazivosti povrstvenej vzorky bol fitovaný simulačný model odrazivosti jednoduchej tenkej vrstvy na semi-infinitnom substráte. Výsledný priebeh indexu lomu a hrúbky vrstvy bol porovnávaný pre tri merania v rôznych spektrálnych šírkach.
Introductory part of series of articles, which acquaint readers with optical basics of spectral devices. The next part will be devoted to devices based on the light dispersion using refraction, and in the third part devices utilizing diffraction on optical gratings for the light dispersion will be analysed. This introductory part is concerned mostly on terminology of concepts occurring for distinction of unique types of the devices and names of dispersion elements. and Úvodní část seriálu článků, který seznamuje čtenáře s optickými základy spektrálních přístrojů. Další část se bude věnovat přístrojům založeným na rozkladu světla lomem a v třetí části budou rozebrány přístroje využívající k rozkladu světla difrakci na optických mřížkách. Tato úvodní část se týká povětšinou terminologie pojmů vyskytujících se při rozlišování jednotlivých typů těchto přístrojů a názvů rozkladných prvků.