The article describes the measurement of spectrum of a luminescent diode by means of interference spectroscopy. The form of the spectral density is determined from the measured autocorrelation function. The autocorrelation function is measured by means of Michelson interferometer. Basic relations for the calculation of spectral density from the measured autocorrelation function are derived. The focus of the article is concentrated on the correct setting of sampling parameters of the interference spectrometer.
The article deals with white-light spectral interferometry used for measuring the thickness of SiO2 thin films on a silicon substrate. A slightly dispersive Michelson interferometer with a cube beam splitter and a fibre optic spectrometer are used when one of the interferometer mirrors is replaced by the SiO2 thin film on the silicon wafer. Thickness of the SiO2 thin film is determined by comparison of recorded spectral interferogram with theoretical one provided that the optical constants for materials involved in the structure are known. This method was applied for the thickness determination of four SiO2 thin-film samples. and Článek se zabývá využitím spektrální interferometrie v bílém světle pro měření tloušťky tenkých vrstev SiO2 na křemíkovém substrátu. Využívá se mírně disperzního Michelsonova interferometru s polopropustným zrcadlem ve tvaru kostky a vláknově optického spektrometru pro záznam interferogramů, kdy jedno ze zrcadel interferometru je nahrazeno křemíkovou deskou s tenkou vrstvou SiO2. Tloušťku tenké vrstvy SiO2 určujeme porovnáním zaznamenaného spektrálního interferogramu s interferogramem teoretickým za předpokladu znalosti optických konstant tenké vrstvy a substrátu. Tuto metodu jsme využili pro určení tloušťky čtyř vzorků s SiO2 tenkou vrstvou.
This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metallic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excels with its wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision. and Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, speciálně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.
In this paper the way of evaluation of sheet steels surface made of cold lengthwise rolling on the sheet rolling mill DUO 210 SVa is presented. The aim is to highlight the link between technological parameters and surface topography. In particular it goes about searching for links between the material reduction to the particular sheet rolling mill and the surface topography. It is also presented the ratio Ra/Rz in terms of surface modifications of rolled material. and V příspěvku je prezentován způsob hodnocení povrchu plechů vytvořených podélným válcováním za studena na stolici DUO 210 SVa. Cílem je poukázat na vazbu mezi technologickými parametry a topografií povrchu. Zejména jde o hledání vazby mezi úběrem materiálu na dané válcovací stolici a topografií povrchu. Je zde také prezentován poměr Ra/Rz z hlediska povrchových úprav válcovaného materiálu.
This article briefly surveys selected methods for measuring of optical surface shapes, especially aspherical surfaces, their advantages and parameters of devices applicable for this kind of measurement. Aspheres, in view of their great application potential, are currently in the focus of many scientific institutions and companies involved in optical manufacturing. The measurement possibilities of these devices are presented only roughly, their measuring range depends on the details of the specific application. and Článek je stručným přehledem vybraných metod měření tvaru optických ploch, především asférických, které vzhledem k jejich aplikačnímu potenciálu jsou v současné době v centru pozornosti mnoha vědeckých pracovišť a firem zabývajících se optickou výrobou. Článek poslouží všem zájemcům o parametrech speciálních přístrojů a jejich použití pro tento druh měření. Informace o měřicích rozsazích přístrojů je pouze orientační a závisí na konkrétní aplikaci.
The aim of this article is to present a trend in research on measurement error in survey data and to suggest some problematic aspects of this approach. The article describes the Multitrait Multimethod experimental design and its modifi cation into a 2 Split-ballot Multitrait Multimethod (2 SB MTMM), which is used for experimental data collection in the European Social Survey. The text shows how to analyze 2 SB MTMM data to obtain estimates of construct validity, reliability and common method variance for a single questionnaire item, and how to make use of these estimates. It also points to some problems encountered in 2 SB MTMM data analysis., Johana Chylíková., and Obsahuje bibliografii
When we measure shifts and deformations by digital holography we find a distortion which is caused by different directions of incoming and reflected rays. This paper discusses theoretical description of behaviour and calculations of the sensitivity vector. We propose and experimentally confirm the way to determine the sensitivity vector. and Při měření posunu a deformace pomocí digitální holografické interferometrie narážíme na problém zkreslení, které je způsobeno nestejným rozložením směrů dopadajících a odražených paprsků. V tomto příspěvku je diskutován teoretický popis chování a výpočtu vektoru citlivosti a je také navržen a experimentálně ověřen způsob jeho měření.
Except shape errors (low spatial frequencies) and microroughness (high spatial frequencies) on optical surface there also occur socalled mid spatial frequencies (MSF). Structures inside band MSF originate primarily during subaperture machining and significant role have vibrations inside machine-tool [1]. The subject of this article is a vibrodiagnostics of optical surface machining by CNC machine-tool and localization of effect of specific vibrational frequencies to the area on workpiece surface. and Kromě odchylek tvaru, tedy nízkých prostorových frekvencí, a mikrodrsnosti, tedy vysokých prostorových frekvencí, se na optickém povrchu taktéž vyskytují tak zvané střední prostorové frekvence. Struktury v pásmu středních prostorových frekvencí (MSF - mid spatial frequencies) vznikají především u subaperturního CNC obrábění a významnou roli u toho hrají vibrace uvnitř obráběcího stroje [1]. Předmětem tohoto článku je vibrodiagnostika obrábění optických ploch na CNC stroji a lokalizace působení konkrétních vibračních frekvencí na oblast na povrchu obrobku.
This article is focused on evaluation of surface modification on monocrystalline wafer after treatment by pulsed laser radiation with the wavelength 1 064 nm both in surrounding atmosphere and under thin layer of demineralised water. Dependence of the created groove dimensions on the pulse energy was investigated and treated surface structural changes were compared. and Článek se zaměřuje na vyhodnocení povrchových změn na plátku monokrystalického křemíku po ovlivnění pulsním laserovým zářením o vlnové délce 1 064 nm jak v přirozené atmosféře, tak pod tenkou vrstvou demineralizované vody. V experimentu byla zjišťována závislost rozměrů vytvořené rýhy na energii pulsu a porovnány změny struktury ovlivněného povrchu.