Kdyby na začátku třetího tisíciletí proběhla mezi fyziky anketa o tom, kterého objevu by se v něm rádi dožili, jedna z nejčastějších odpovědí by jistě byla zaznamenání průchodu gravitační vlny. To se stalo 14. září 2015 a bylo oznámeno a publikováno 11. února 2016 [1]. Pamětníci si vzpomenou, jak jsme se z ohlášeného objevu gravitačních vln po nějakou dobu těšili od roku 1969. Můžeme si nyní být opravdu jisti? Gravitační vlna znamená deformaci prostoročasové geometrie, kterou přímo pozorovat neumíme, víme jen, že asi 3300 kilometrů od sebe vzdálené detektory zaznamenaly s časovým rozdílem 7 mililsekund velmi dokonale korelované vzplanutí interferenčního jevu způsobené nepochybně malými posunutími zrcadel. Už ze samotného jevu je zřejmé, že je prakticky nemožné jej připsat náhodě či pozemským příčinám. Znamená to však, že jediným původcem může být gravitační vlna? Toto přesvědčení je nesmírně posíleno tím, že objevitelé jsou schopni stanovit zdroj - vlnu vyslala těsně před svým splynutím dvojice černých děr o hmotnostech 29 a 36 hmotností Slunce, přičemž přesnost odhadu činí z 4 hmotností Slunce. Lze také, i když už méně přesně, předpovědět, ve kterém směru na obloze a v jaké vzdálenosti se děl odehrál. Široká důvěra v tato data může zarazit, zvláště srovnáme-li to s postojem odborníků i médií k jinému nedávno oznámenému objevu - deváté planetě. Všeobecně se prosadil názor, že nápovědy, které skýtají nepravděpodobně sladěné hodnoty parametrů jiných, menších těles, jež by mohly mít původ v působení planety, nestačí a nepostačí ani zvýšení jejich počtu - co se týče samotné planety, držíme se skeptické zásady: dokud neuvidíme, neuvěříme. V čem je rozdíl? Možná čtenáři pomůže utvořit si o tom úsudek následující procházka historií objevu a vyhlídkami, které přináší., Jan Novotný., and Obsahuje bibliografii
A method of optical design of hybrid optical systems by utilization the aplanatic condition is introduced here. The aplanatic condition was taken as a main optimizing criterion for the design of phase functions of diffractive optical elements during the optimization procedure. The phase function of the diffractive element can be arbitrary. We don‘t restrict ourselves to diffractive optical elements with a spherical phase function. Several hybrid optical systems, in particular hybrid doublets and hybrid triplets, consisting of one diffractive element and one or two refractive lenses, were designed and analyzed by this method. and V článku se uvádí metoda návrhu hybridních optických systémů využívající aplanatickou podmínku. Tato podmínka se v optimalizačním procesu chápe jako základní kritérium pro návrh fázových funkcí difraktivních optických prvků. Fázová funkce difraktivního optického prvku může být libovolná, není omezena na sférické fázové funkce. Touto metodou bylo navrženo a analyzováno několik hybridních optických systémů, zvláště hybridní dublety a triplety, složené z jednoho difraktivního prvku a jednoho nebo dvou lámavých čoček.
A new version of an imaging spectroscopic reflectometer has been developed at the Institute of Physical Engineering, Faculty of Mechanical Engineering, Brno University of Technology. The device has been developed for measurements of thin film samples with high gradients of non-uniformity in their optical parameters. This device uses a membrane beamsplitter (typically called Pellicle beamsplitter) as a basic optical element. The new beamsplitter limits the usage of the device only for measurements in VIS and near IR range of light spectra. The new device is complementary to an older one which works also in UV spectral region, but with a lower sample resolution. Both devices together allow application of imaging spectroscopic reflectometry for a wide range of samples of non-uniform thin films. and Na ústavu Fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně byla vyvinuta nová varianta zobrazovacího spektroskopického reflektometru pro optickou charakterizaci tenkých vrstev neuniformních v optických parametrech. Přístroj vznikl za účelem rozšíření metody zobrazovací spektroskopické reflektometrie pro vzorky tenkých vrstev s velkými gradienty zmíněných neuniformit. Tohoto cíle bylo dosaženo vyšším obrazovým rozlišením nového přístroje. Při jeho návrhu bylo s výhodou využito membránového děliče, který však omezil spektrální rozsah použitého světla pouze na viditelnou a blízkou infračervenou oblast. Nový přístroj doplňuje již dlouhodobě funkční zobrazovací spektroskopický reflektometr pracující také v ultrafialové spektrální oblasti. Oba přístroje umožňují aplikaci zobrazovací spektroskopické reflektometrie na širokou množinu vzorků neuniformních tenkých vrstev.